[发明专利]相位检测方法及相位检测装置

权利要求书

1.一种相位检测方法，用于对待测目标进行距离测量，其特征在于，该方法包括如下步骤：

产生同步的发射编码信号和参考编码信号；

根据发射编码信号生成经过编码的发射信号，所述发射信号为光信号、超声波信号或微波信号；

将所述经过编码的发射信号导向所述待测目标，并且接收从所述待测目标反射的反射信号；

将所述反射信号进行信号处理形成反射编码信号；

将反射编码信号和参考编码信号进行逻辑运算得到相位延迟；以及

根据所述相位延迟确定待测目标的距离。

2.根据权利要求1所述的相位检测方法，其特征在于，所述发射编码信号和所述参考编码信号均为步进码信号、BCD码信号、格雷码信号或循环码信号。

3.根据权利要求1所述的相位检测方法，其特征在于，所述发射编码信号和所述参考编码信号具有频率差。

4.根据权利要求1所述的相位检测方法，其特征在于，首先将反射信号转换为电信号，再将所得电信号转换为反射编码信号。

5.一种相位检测装置，用于对待测目标进行距离测量，其特征在于，该装置包括：

信号发生电路，用于产生同步的发射编码信号和参考编码信号；

与信号发生电路连接的信号发射元件，根据发射编码信号生成经过编码的发射信号；

信号接收元件，用于接收所述经过编码的发射信号从所述待测目标反射的反射信号，并将所述反射信号进行信号处理形成反射编码信号；

与信号发生电路与信号接收元件均连接的逻辑运算电路，用于将反射编码信号和参考编码信号进行逻辑运算得到相位延迟；以及

主控电路，用于根据所述相位延迟确定待测目标的距离。

6.根据权利要求5所述的相位检测装置，其特征在于，所述信号发生电路为DDS芯片、CPLD芯片或FPGA芯片。

7.根据权利要求5所述的相位检测装置，其特征在于，所述信号发射元件为激光器、超声波发射器或微波发射器。

8.根据权利要求5所述的相位检测装置，其特征在于，所述主控电路为CPLD芯片、FPGA芯片、DSP芯片、ASIC芯片或单片机。

9.根据权利要求5所述的相位检测装置，其特征在于，信号接收元件包括：

接收单元，用于接收所述经过编码的发射信号从所述待测目标反射的反射信号；

转换单元，用于将反射信号转换为电信号；和

整形单元，用于将所得电信号转换为反射编码信号。

10.根据权利要求5所述的相位检测装置，其特征在于，所述发射编码信号和所述参考编码信号具有频率差。