[发明专利]一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的检测系统及方法

权利要求书

1.一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的检测系统，其特征在于：包括光电场传感器(1)、升降平台(2)和电场测量仪(3)，所述光电场传感器(1)安装在所述升降平台(2)上并与所述电场测量仪(3)连接，且所述光电场传感器(1)布置在绝缘子串(4)的周围。

2.根据权利要求1所述的一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的检测系统，其特征在于：所述升降平台(2)包括绝缘环(5)、绝缘杆(6)和绝缘绳(7)，所述绝缘环(5)固定在所述绝缘杆(6)的顶端，所述绝缘绳(7)的一端穿过所述绝缘环(5)并与所述光电场传感器(1)连接。

3.根据权利要求2所述的一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的检测系统，其特征在于：所述光电场传感器(1)的探头到绝缘子串(4)中的各片绝缘子伞裙边缘的距离相同。

4.根据权利要求1～3中任意一项所述的一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的检测系统，其特征在于：所述光电场传感器(1)同时测量绝缘子串(4)周围在X、Y和Z三个方向的电场值以及合成X、Y和Z三个方向的电场值。

5.一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的方法，其特征在于：包括以下步骤：

1)在绝缘子串(4)周围布置光电场传感器(1)；

2)沿绝缘子串(4)移动光电场传感器(1)，并记录光电场传感器(1)在绝缘子串(4)周围多个预设点测得的电场值；

3)根据多个预设点的电场值判断绝缘子串(4)中绝缘子的缺陷情况。

6.根据权利要求5所述的一种利用光电场传感器检测绝缘子缺陷的方法，其特征在于：所述步骤2具体为，

2.1)确认光电场传感器(1)在绝缘子串(4)周围布置无误；

2.2)将光电场传感器(1)的探头对准绝缘子串(4)高压端的第一片绝缘子伞裙，并沿绝缘子串(4)的高压端到低压端移动光电场传感器(1)，并依次记录光电场传感器(1)在多个预设点测量的第一电场值；

2.3)沿绝缘子串(4)的低压端到高压端移动光电场传感器(1)，并依次记录光电场传感器(1)在多个预设点测量的第二电场值；

2.4)将多个预设点的第一电场值分别与对应预设点的第二电场值进行平均计算，得到多个预设点的电场值。

7.根据权利要求6所述的一种利用光电场传感器(1)检测绝缘子缺陷的方法，其特征在于：所述步骤2.1具体为：

2.1)将光电场传感器(1)移动到绝缘子串(4)的高压端处，观察绝缘子串(4)的高压端是否有放电或者异常电晕现象，若没有放电或者异常电晕现象，则光电场传感器(1)在绝缘子串(4)周围布置无误。

8.根据权利要求5～7中任一项所述的一种利用光电场传感器(1)检测绝缘子缺陷的方法，其特征在于：所述步骤3具体为：

3)根据多个预设点的电场值绘制绝缘子串(4)周围电场强度分布曲线，判断绝缘子串(4)中绝缘子的缺陷情况，所述绝缘子串(4)周围电场强度分布曲线为绝缘子串(4)空间轴向的电场变化率曲线。

9.根据权利要求8中所述的一种利用光电场传感器(1)检测绝缘子缺陷的方法，其特征在于：所述步骤3具体为：

3)根据多个预设点的电场值绘制绝缘子串(4)周围电场强度分布曲线，判断绝缘子串(4)中绝缘子的缺陷情况，所述绝缘子串(4)周围电场强度分布曲线为绝缘子串(4)空间轴向的电场变化率曲线，将多个预设点的电场值利用有限元仿真计算方法对绝缘子串(4)的电场分布规律进行仿真分析，判断绝缘子串(4)中绝缘子的缺陷情况。

10.根据权利要求9中所述的一种利用光电场传感器(1)检测绝缘子缺陷的方法，其特征在于：所述预设点的个数为13个。