[发明专利]用于测量滑环装置的磨损程度的方法、故障诊断方法和辅助测量装置

说明书

本发明提供了用于测量滑环装置(100)的磨损程度的方法、故障诊断方法和辅助测量装置，涉及滑环装置领域。该测量方法包括：测量滑道(111)与滑针(112)保持相对静止时的第一探头(310)与第二探头(320)之间的总电阻R10；测量对照滑道与对照滑针保持相对静止时的第一探头与第二探头之间的对照总电阻R20；计算总电阻R10与对照总电阻R20的差值。该辅助测量装置包括：主体(210)；定位组件(220)，其将主体(210)保持在预定位置处；压力组件(230)，其大小可调节地向主体施加压力。故障诊断方法包括根据总电阻R10与对照总电阻R20的差值判定滑环装置是否发生故障。通过该方法和装置能够通过测量静态接触电阻的增加量，来确定磨损程度或故障。

技术领域

本发明涉及滑环装置领域，尤其涉及滑环装置的磨损程度的测量方法、滑环装置的故障诊断方法和辅助测量装置。

背景技术

图1是示出滑环装置100的结构示意图，滑环装置100是用于将电能和电信号等从固定装置传递到旋转装置的电气部件。如图1所示，滑环装置100包括静止部分110和旋转部分120。静止部分110与固定装置相连接，并且旋转部分120与旋转装置相连接。静止部分110包括依次电连接的滑道111、第一导线112和第一哈丁头插针113，其中，滑道111呈环形形状。旋转部分120包括依次电连接的滑针121、第二导线122和第二哈丁头插针123。滑针121能够围绕滑道111的中心轴线旋转，并且滑道111与滑针121相接触，以传递电能和电信号。

滑环装置100的滑道111与滑针121之间的导通性决定滑环装置100的性能。当滑针121围绕滑道111旋转时，滑道111与滑针121之间不断摩擦，并产生划痕。随着滑环装置100使用年限的增加，滑道111与滑针121之间的磨损越来越严重，划痕越来越深，由此会影响滑道111与滑针121之间的导通性，从而影响滑环装置100的性能。因此，对滑道111和滑针121的磨损程度进行测量是非常重要的。

由于随着滑道111与滑针121之间的磨损越大，滑道111与滑针121之间的静态接触电阻越大，因此通过测量滑道111与滑针121之间的静态接触电阻的增加量，可以获知滑环装置100的磨损程度，从而确定何时维护和更换滑环装置100。本文中，术语“静态接触电阻”指的是滑道和滑针相对静止时，滑道和滑针之间的接触电阻。为了便于描述，滑道111与滑针121之间的静态接触电阻被称为滑环装置100的静态接触电阻或简称为静态接触电阻。

图2示出现有技术中的用于测量滑环装置100的磨损程度的方法。在步骤S1’中，提供电阻测量装置和未使用过的对照滑环装置。电阻测量装置包括第一探头310和第二探头320，并且能够用于测量第一探头310与第二探头320之间的电阻。对照滑环装置与滑环装置100的结构相同，并且包括与滑道111相同的对照滑道、与滑针121相同的对照滑针、与第一导线112相同的对照第一导线、与第二导线122相同的对照第二导线、与第一哈丁头插针113相同的对照第一哈丁头插针和与第二哈丁头插针123相同的对照第二哈丁头插针。

然后，在步骤S2’中，将第一探头310与第一哈丁头插针113电连接，并且将第二探头320与第二哈丁头插针123电连接。

在步骤S3’中，测量滑道111与滑针121保持相对静止时的第一探头310与第二探头320之间的总电阻R100，并且R100满足以下关系式：

R100＝R101+R102+R103+R104+R105+R106+R107+R108+R109+R110+R111+R112+R113，