[发明专利]一种通过计算特征值比较标准单元库的方法

说明书

一种通过计算特征值比较标准单元库的方法，包括步骤：获取两个标准单元库的时序文件；对所述时序文件中的信息求取特征值；基于所述求取的特征值，评价所述两个标准单元库。本发明的通过计算特征值比较标准单元库的方法，以面积、时延及功耗为目标计算特征值，增加了标准库的比较结果的可读性，特别适用于EDA工具的设计及使用过程。

技术领域

本发明涉及集成电路计算机辅助设计领域，尤其涉及一种通过计算特征值比较标准单元库的方法。

背景技术

随着芯片技术的发展，时延模型由非线性延迟模型（NLDM）发展到复合电流源（CCS）模型，标准单元库中的数据量越来越大；同时，多角多模（MMMC，Multi-Corner-Multi-Mode）的设计使得库文件的数量也在增加。

设计文件规模不断增大，这使得标准单元库（Timing Library）文件的数据比较无法人工完成，因而需要EDA工具的辅助。标准单元库的设计者需要一套自动化比较的工具，来比较两套不同版本的库的基本特征，从而验证标准单元是否符合设计预期。芯片设计人员同样也需要这样的工具，根据面积、功耗及时延等信息来帮助选择使用合适的标准单元。

因此，提出一种通过计算特征值比较单元库的方法，能够对对两个标准单元中的数据进行比较成为亟待解决的问题。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种标准单元库的比较方法，运用在标准单元库的制作以及使用过程中，对两个标准单元中的数据进行比较。

为实现上述目的，本发明提供的通过计算特征值比较标准单元库的方法，包括以下步骤：

（1）获取两个标准单元库的时序文件；（2）对所述时序文件中的信息求取特征值；（3）基于所述求取的特征值，评价所述两个标准单元库。

所述步骤（2）进一步包括步骤：针对所述时序文件中的单值信息不做改变，直接求取所述特征值。

进一步地，所述单值信息为面积及静态功耗。

所述步骤（2）进一步包括步骤：针对所述时序文件中的非线性模型信息，通过将采样点转换为单个数值求取所述特征值。

进一步地，所述非线性模型信息为时延及内部功耗；其中，所述时延为延迟时间及信号翻转时间。

所述步骤（3）进一步包括步骤：通过计算所述两个标准单元库中信息的特征值的相对误差，对所述两个标准单元库进行评价。

进一步地，所述相对误差的计算公式为：

其中，Error为相对误差值，tar为目标单元库中的特征值，ref为参考单元库中的特征值，min_ref为对比参数。

所述步骤（3）进一步包括步骤：通过计算所述两个标准单元库中信息的特征值的评分，对所述两个标准单元库进行评价。

进一步地，所述评分的计算公式为：

其中，Score为特征值的评分值，A为面积的特征值，L为静态功耗的特征值，I为内部功耗的特征值， D为延迟时间的特征值，T为信号翻转时间的特征值。

进一步地，基于所述两个标准单元库的特征值的评分值，计算所述两个标准单元库的总误差。

所述步骤（3）进一步包括步骤：根据所述两个标准单元库中信息的特征值，制作多维度的雷达图报告，对所述两个标准单元库进行评价。

本发明的通过计算特征值比较标准单元库的方法，以面积、时延及功耗为目标计算特征值，增加了标准库的比较结果的可读性，特别适用于EDA工具的设计及使用过程。