[发明专利]一种带光束调整的EDXRF检测装置

权利要求书

1.一种带光束调整的EDXRF检测装置，包括支撑壳体(1)以及设置在支撑壳体(1)上的发光机构(2)、样品存放机构(3)和探测分析机构(4)，其特征在于，

还包括设置在发光机构(2)和样品存放机构(3)之间的光束调整机构(4)；

所述光束调整机构(4)包括圆筒状挡光机构(51)以及嵌套在挡光机构(51)内的聚光机构(52)，所述挡光机构(51)的外壁为不透光部分对初级X射线进行遮挡；所述挡光机构(51)不透光部分一端固定在发光机构(2)的光束出射位置，聚光机构(52)远离发光机构(2)一端固定在样品存放机构(3)一侧；

发光机构(2)发出的初级X射线的边缘光束经光束调整机构(4)的挡光机构(51)进行遮挡，中间光束经光束调整机构(4)的聚光机构(52)会聚成平行光束或会聚光束打到样品存放机构(3)的样品上，激发样品所含元素的特征X射线经探测分析机构(4)接收。

2.根据权利要求1所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述聚光机构(52)包括空心玻璃毛细管束和套在空心玻璃毛细管束两端的固定套，空心玻璃毛细管束的中心导管是直导管，其余导管以中心导管为轴，依次分层排列，每一层空心玻璃毛细管束的曲率相同，多层空心玻璃毛细管束由内向外曲率逐渐减小，聚光机构(52)一端的固定套和挡光机构配合连接。

3.根据权利要求1所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述光束调整机构(4)的入射口的直径d通过以下公式获得：

d＝2*L*tanθ

其中：L为发光机构(2)中X射线靶面到出射口的距离；θ为发光机构(2)X射线光束色散角度。

4.根据权利要求1所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述挡光机构(51)和聚光机构(52)在光束入射口处对齐，挡光机构(51)内部中空尺寸等于聚光机构(52)的外部尺寸，紧密贴合。

5.根据权利要求1所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述挡光机构(51)固定在支撑壳体(1)上，外部尺寸大于发光机构(2)出光口尺寸。

6.根据权利要求1所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述支撑壳体(1)为封闭壳体。

7.根据以上任意一项权利要求所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述挡光机构(51)的材料为金属材料。

8.根据权利要求7所述的一种带光束调整的EDXRF检测装置，其特征在于，所述挡光机构(51)的材料为铜、钢或合金。