[发明专利]一种无基板半导体封装制造方法在审

专利信息
申请号: 201611227647.3 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN108242405A 公开(公告)日: 2018-07-03
发明(设计)人: 刘植;钟金旻;吕香桦;洪根刚 申请(专利权)人: 冠宝科技股份有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 代理人: 刘云贵;金卫文
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 黏着层 半导体晶粒 透光基板 无基板半导体封装 凹形模具 封装胶 移除 金属凸块 紫外光线 封装件 脆化 覆晶 附着 压合 灌注 制造 照射
【说明书】:

一种无基板半导体封装制造方法,包含:提供半导体晶粒,其具有金属凸块。形成黏着层在透光基板,将半导体晶粒以覆晶方式附着于黏着层上。灌注封装胶在黏着层与半导体晶粒上,使用凹形模具压合封装胶,移除该凹形模具,经透光基板照射紫外光线,使该黏着层脆化,移除透光基板与该黏着层以形成封装件。

技术领域

发明涉及一种半导体封装方法,尤其涉及一种无基板的半导体封装方法。

背景技术

请参考图1,图1揭示传统半导体封装,其具有晶粒20,晶粒20通过黏胶30附着于基板10之上,晶粒以传统打线方式(Wire bonding)或以覆晶方式(Flipchip)(图中未示)与基板10上的导电线路连接,而后通过基板10上的导电通孔40电性连接至封装焊垫50。此种传统的封装方式,不管是以打线方式或覆晶方式置放晶粒,其最后封装的厚度H1都太厚,不利于微型化的电子产品。以图1为例,最后封装厚度H1等于基板10本身的厚度H2加上封装胶厚度H3。因应微型化电子产品的需求,有必要使封装后半导体产品的厚度减小。

发明内容

一种无基板半导体封装的制造方法,包含:提供至少一个半导体晶粒,半导体晶粒的每一个接合垫上具有金属凸块。提供透光基板,其具有第一表面与第二表面。形成黏着层在透光基板的第一表面上。将半导体晶粒以覆晶方式附着于黏着层上。

提供凹形模具,并灌注封装胶至凹形模具的凹槽里。将附着有半导体晶粒的透明基板倒置,使透明基板以第二表面朝上与第一表面朝下的方式,置放入凹形模具里,使半导体晶粒没入封装胶,但露出部分等金属凸块于封装胶外。固化封装胶后,移除凹形模具。从该透光基板的第二表面上照射紫外光线,使黏着层脆化。移除透光基板与黏着层以形成封装件,其中封装件露出每一个金属凸块的顶部。

另一方法为将半导体晶粒以覆晶方式附着于黏着层上后。灌注封装胶在黏着层与半导体晶粒上。使用凹形模具压合封装胶。移除凹形模具。从透光基板的第二表面上照射紫外光线,使黏着层脆化。移除透光基板与黏着层以形成一封装件,其中封装件露出每一个金属凸块的顶部。另一方法,包含提供透光基板。形成黏着层在透光基板的第一表面上,形成金属图案层在黏着层上,其中金属图案层包含有多个金属内接垫、多个金属外接垫与多条金属联机。等半导体晶粒以覆晶方式附着于金属图案层上,使每一个金属凸块附着于每一个金属内接垫。灌注封装胶在金属图案层与半导体晶粒上。使用凹形模具压合封装胶,使封装胶定型固化封装胶后,移除凹形模具。从透光基板的第二表面上照射紫外光线,使黏着层脆化。移除透光基板与黏着层以形成封装件,其中封装件露出等金属外接垫的底部。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,附图的详细说明如下:

图1为传统半导体封装方法的示意图;

图2A为实施例中半导体晶粒置放于透明基板的示意图;

图2B为实施例中半导体晶粒浸入封装胶的示意图;

图2C为实施例中移除透明基板的示意图;

图2D为实施例中形成封装件的示意图;

图2E为实施例中分割出子封装件的示意图;

图3A为实施例中半导体晶粒置放于透明基板的示意图;

图3B为实施例中灌注封装胶的示意图;

图3C为实施例中压模封装胶的示意图;

图3D为实施例中移除凹型模具的示意图;

图3E为实施例中移除透明基板,形成封装件的示意图;

图3F为实施例中分割出子封装件的示意图;

图4A为实施例中半在透明基板上形成金属图案的示意图;

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