[发明专利]一种基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法在审
| 申请号: | 201611226881.4 | 申请日: | 2016-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN106651933A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
| 发明(设计)人: | 燕皓阳;刘颖;葛瑜祥;胡丹;李大湘 | 申请(专利权)人: | 西安邮电大学 |
| 主分类号: | G06T7/41 | 分类号: | G06T7/41 |
| 代理公司: | 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙)11548 | 代理人: | 李静 |
| 地址: | 710000 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 radon 变换 改进型 纹理 特征 提取 算法 | ||
技术领域
本发明涉及的是数字图像处理技术领域,具体涉及一种基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法。
背景技术
在刑侦和交通事故调查中,图像被看作是一条重要的线索,图像检索对警方快速的在数据库中找到有用的目标图像是很重要的,尽管已设计出很多算法来提取图像的特征,但对于具有一定程度旋转的图像检索却鲜有人研究。
纹理特征是图像特征的重要特征之一,它可在时域中描述也可在频域中描述,Tamura纹理特征和灰度共生矩阵是时域中典型的纹理特征提取算法,傅里叶变换和小波变换是频域中典型的纹理特征提取算法。
小波变换是典型的图像多尺度分析方法,但是它在显示图像的方向和旋转方面却很弱,而且它还有另一个缺点就是对变化很敏感,这严重地影响了它在图像检索领域的应用。专家们提出了Dual Tree Complex Wavelet transform(DT-CWT)双数复小波,克服了小波变换的缺点,但是DT-CWT算法无法克服图像旋转所产生的影响,基于此,设计一种新型的基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法还是很有必要的。
发明内容
针对现有技术上存在的不足,本发明目的是在于提供一种基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法,设计合理,解决了图像的移动或者旋转对产生的小波变换系数的影响问题,便于图像检索,方便高效。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法,包括Radon变换、双树复小波变换、子带系数的提取、特征值的计算、特征向量的构造、相似度的计算,对图像进行Radon变换、双树复小波变换是本算法的核心;所述Radon变换是对原始图像进行Radon变换,通过图像Radon域系数与图像旋转角度的关系来提取旋转不变量;所述双树复小波变换是对Radon变换过后得到的投影矩阵进行的变换;所述子带系数的提取、特征值的计算以及特征向量的构造都是在双树复小波变换的基础上进行的;所述相似度的计算是根据输入图像与图像数据库中,图像纹理特征向量的欧氏距离来计算的,从而检索出与目标图像匹配的图像。
作为优选,所述算法的使用方法如下:
(1)对原始图像进行Radon变换(gθi(1),gθi(2),…,gθi(N))Radon域θ角方向的投影序列,Rf则是Radon域所有角方向组成的投影矩阵。
(2)对Rf矩阵的每一列,即每个对进行3层双树复小波变换,共生成9个高频子带和1个低频子带。
(3)计算各子带的均值(M)、方差(σ)、能量(E),以上10个子带的均值、方差和能量就生成了1维的特征向量,第i层的均值、方差、能量分别是:
图像的纹理特征向量即是:f=(M1,σ1,E1,M2,σ2,E2,…,M10,σ10,E10)。
(4)用纹理特征向量进行相似度计算,根据计算所得的相似度得出检索结果。
本发明的有益效果:可以有效地克服图像旋转后在Radon域系数切片上的平移造成的小波系数的剧烈变化,既可以利用Radon系数与图像旋转的关系又可以利用双树复小波的移不变性来提取不随图像旋转的纹理特征,有效解决了由于图像旋转而影响检索结果的问题。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式来详细说明本发明;
图1为本发明的算法原理图;
图2为本发明的流程图。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。
参照图1-2,本具体实施方式采用以下技术方案:一种基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法,包括Radon变换、双树复小波变换、子带系数的提取、特征值的计算、特征向量的构造、相似度的计算,其中对图像进行Radon变换、双树复小波变换是基于Radon变换的改进型纹理特征提取算法的核心。
值得注意的是,所述Radon变换是对原始图像进行Radon变换,通过图像Radon域系数与图像旋转角度的关系来提取旋转不变量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安邮电大学,未经西安邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611226881.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





