[发明专利]一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统

说明书

本发明公开了一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，涉及信号传输技术领域。该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，包括外壳，所述外壳的内腔通过螺栓固定连接有电路板，所述电路板上分别固定连接有处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器和信号比较器。该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，通过处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器、信号比较器、信号发送端、信号接收端、显示屏和控制面板的配合使用，缩短了信号传输线路的长度，避免了由于信号传输线路过长而导致的误差过大。

技术领域

本发明涉及信号传输技术领域，具体为一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统。

背景技术

衰减器是一种提供衰减的电子元器件，广泛地应用于电子设备中，它的主要用途是:调整电路中信号的大小；在比较法测量电路中，可用来直读被测网络的衰减值；改善阻抗匹配，若某些电路要求有一个比较稳定的负载阻抗时，则可在此电路与实际负载阻抗之间插入一个衰减器，能够缓冲阻抗的变化。

传统的测试系统，在使用过程中，容易出现由于信号传输线路过长而导致的误差过大，难以很好的对衰减器的性能进行评估，降低了测试系统的精准度，给使用者的使用带来不便。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，解决了容易出现由于信号传输线路过长而导致误差过大的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，包括外壳，所述外壳的内腔通过螺栓固定连接有电路板，所述电路板上分别固定连接有处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器和信号比较器，所述外壳的顶部从左往右依次贯穿设置有信号发送端和信号接收端，所述外壳的右侧从上往下依次固定连接有显示屏和控制面板，所述外壳的底部贯穿设置有电源接口，所述外壳正表面的左侧通过转轴活动连接有装置盖，所述装置盖的正表面固定安装有装置锁，所述外壳内腔的右侧固定连接有与装置锁配合设置的卡块。

所述处理器的输入端分别与电源接口和控制面板的输出端电性连接，所述电源接口的输入端与电源的输出端电性连接，所述处理器的输出端与显示屏的输入端电性连接，所述处理器分别与信号比较器和内存条双向连接，所述信号比较器的输出端与第一信号强度检测装置的输入端电性连接，所述第一信号强度检测装置的输出端依次通过信号发送端、衰减器和信号接收端的输入端电性连接，所述信号接收端的输出端通过放大器与第二信号强度检测装置的输入端电性连接，所述第二信号强度检测装置的输出端与信号比较器的输入端电性连接。

优选的，所述电路板的正表面且位于第一信号强度检测装置和第二信号强度检测装置之间开设有散热孔。

优选的，所述装置盖的正表面固定连接有与外壳配合设置的缓冲胶皮。

优选的，所述处理器的主频率至少为2.2GHz。

优选的，所述内存条的存储容量至少为512M。

(三)有益效果

本发明提供了一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统。具备以下有益效果：该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，通过处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器、信号比较器、信号发送端、信号接收端、显示屏和控制面板的配合使用，缩短了信号传输线路的长度，避免了由于信号传输线路过长而导致的误差过大，使得测试系统可以很好的对衰减器的性能进行评估，提高了测试系统的精准度，方便了使用者的使用。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明结构原理框图。