[发明专利]粒子检测传感器

说明书

技术领域

本发明涉及粒子检测传感器。

背景技术

作为粒子检测传感器，已知有光散射式粒子检测传感器，该光散射式粒子检测传感器，根据粒子的散射光来检测大气中浮游的粒子。

光散射式粒子检测传感器是具备投光元件和受光元件的光电式传感器，根据向获取的测量对象的气体照射投光元件的光而产生的粒子的散射光，检测气体中包含的粒子(例如参考专利文献1)。这样，能够检测例如大气中浮游的尘埃、花粉、烟雾、PM2.5(微小粒子状物质)等的粒子。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1∶日本特开平11-248629号公报

在粒子检测传感器中，作为投光元件采用了半导体激光等的半导体发光元件。半导体发光元件，通过发光从半导体发光元件自身产生热，从而半导体发光元件的温度上升，降低了光输出。换言之，半导体发光元件因自身发出的热，导致光输出降低。

因此，在作为投光元件采用半导体发光元件的粒子检测传感器中，因投光元件的发光，随着时间经过，检测精度下降，出现检测精度不均这样的课题。

在这个情况下，通过使电路搭载增益，该增益是使因投光元件的温度而出现的光输出的变化消失的增益，从而校正因投光元件的温度而出现的光输出的变化。然而，电路的校正会使成本变高。

发明内容

本发明鉴于这样的课题而提出，其目的在于提供一种粒子检测传感器，以低成本，就能抑制因投光元件的温度而出现的光输出的变化导致的检测精度不均。

为了达到所述目的，本发明涉及的粒子检测传感器，具备：投光元件，向检测区域射出光；受光元件，接受散射光，该散射光是来自所述投光元件的光因所述检测区域的粒子而散射的光；第一支承部件，支承所述受光元件；以及第二支承部件，支承所述投光元件，所述第二支承部件的线性膨胀系数与所述第一支承部件不同，所述第一支承部件具有用于设置所述受光元件的第一设置部、以及用于设置所述第二支承部件的第二设置部，所述第一设置部和所述第二设置部，被设置在与所述投光元件的光轴或者所述受光元件的光轴之间的距离不同的位置。

通过本发明，能够以低成本就能抑制投光元件的温度而出现的光输出的变化导致的检测精度不均。

附图说明

图1是实施方式涉及的粒子检测传感器的外形斜视图。

图2是在取下第一框体部的状态下的实施方式涉及的粒子检测传感器的斜视图。

图3是实施方式涉及的粒子检测传感器的截面图(YZ平面的截面图)。

图4是实施方式涉及的粒子检测传感器的截面图(沿着图2的IV-IV线的XY平面的截面图)。

图5是实施方式涉及的粒子检测传感器的截面图(沿着图2的V-V线的XY平面的截面图)。

图6是表示在实施方式涉及的粒子检测传感器的投光元件的光束剖面的一例的图。

图7是表示针对半导体发光元件的温度与光输出变化的关系的图。

图8是用于说明实施方式涉及的粒子检测传感器的工作原理的图(实施方式涉及的粒子检测传感器的简略模式图)。

图9是用于说明实施方式涉及的粒子检测传感器的工作原理的图(在低温时和高温时的投光元件的光强度分布图)。

图10是用于说明变形例1涉及的粒子检测传感器的工作原理的图(变形例1涉及的粒子检测传感器的简略模式图)。

图11是用于说明变形例2涉及的粒子检测传感器的工作原理的图(变形例2涉及的粒子检测传感器的简略模式图)。

图12是用于说明变形例3涉及的粒子检测传感器的工作原理的图(变形例3涉及的粒子检测传感器的简略模式图)。

具体实施方式

下面，参考附图来说明本发明的实施方式。另外，下面说明的实施方式都是示出本发明优选的一个具体例子。以下的实施方式中示出的数值、形状、材料、构成要素、构成要素的配置位置以及连接形式等，都是本发明的一个例子，主旨不是限制本发明。因此，在以下的实施方式的构成要素中，对于示出本发明的最上位概念的方案中所没有记载的构成要素，作为任意的构成要素来说明。

并且，各个图为模式图，并非是严谨的图示。此外，对于各个图中实质上相同的构成赋予相同的符号，并省略或简化重复说明。

此外，在本说明书及附图中，X轴、Y轴及Z轴表示三维直角坐标系的三个轴，将Z轴方向作为铅直方向，与Z轴垂直的方向(与XY平面平行的方向)作为水平方向。

(实施方式)