[发明专利]测距方法及测距装置

权利要求书

1.一种测距方法，其特征在于，包括：

向被测物体发射第一光信号与第二光信号，接收第一反射信号与第二反射信号；其中，所述第一光信号的频率小于所述第二光信号的频率；所述第一反射信号为所述第一光信号被所述被测物体反射回来的信号，所述第二反射信号为所述第二光信号被所述被测物体反射回来的信号；所述第一光信号的发射时间与所述第二光信号的发射时间相同；

基于所述第一光信号与所述第一反射信号，得到第一相位差，基于所述第二光信号与所述第二反射信号，得到第二相位差；

根据所述第一相位差计算得出第一距离；

根据所述第一距离与所述第二光信号对应的测量量程计算得出第三相位差；所述第三相位差为由于所述第二光信号的周期性而缺失的所述第二光信号与所述第二反射信号的相位差；

根据所述第二相位差与所述第三相位差的和计算得出第二距离，作为对所述被测物体的测距结果；

所述测距方法应用于测距装置，所述测距装置包括接收元件，所述接收元件包括感光元件面阵列，其中，所述感光元件面阵列中每个感光元件包括第一感光子元件与第二感光子元件；

所述第一感光子元件，用于接收所述第一反射信号；

所述第二感光子元件，用于接收所述第二反射信号；

所述感光元件面阵列中用于接收所述第一反射信号的感光元件与用于接收所述第二反射信号的感光元件在同一时间间隔内交替排列；

在第一时间间隔内用于接收所述第一反射信号的感光元件在第二时间间隔内用于接收所述第二反射信号；

在所述第一时间间隔内用于接收所述第二反射信号的感光元件在所述第二时间间隔内用于接收所述第一反射信号。

2.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，所述根据所述第一距离与所述第二光信号对应的测量量程计算得出第三相位差包括：

将所述第一距离除以所述测量量程得到的商向下取整得到的整数，作为所述缺失的所述第二光信号与所述第二反射信号的相位周期数目；

根据所述相位周期数目计算得出所述第三相位差。

3.一种测距装置，其特征在于，包括：发射元件、接收元件与处理芯片；

所述发射元件，用于向被测物体发射第一光信号与第二光信号；其中，所述第一光信号的频率小于所述第二光信号的频率；所述第一光信号的发射时间与所述第二光信号的发射时间相同；

所述接收元件，用于接收第一反射信号与第二反射信号；其中，所述第一反射信号为所述第一光信号被所述被测物体反射回来的信号，所述第二反射信号为所述第二光信号被所述被测物体反射回来的信号；所述接收元件包括感光元件面阵列，其中，所述感光元件面阵列中每个感光元件包括第一感光子元件与第二感光子元件；

所述第一感光子元件，用于接收所述第一反射信号；

所述第二感光子元件，用于接收所述第二反射信号；

所述感光元件面阵列中用于接收所述第一反射信号的感光元件与用于接收所述第二反射信号的感光元件在同一时间间隔内交替排列；

在第一时间间隔内用于接收所述第一反射信号的感光元件在第二时间间隔内用于接收所述第二反射信号；

在所述第一时间间隔内用于接收所述第二反射信号的感光元件在所述第二时间间隔内用于接收所述第一反射信号；

所述处理芯片，用于：

基于所述第一光信号与所述第一反射信号，得到第一相位差，基于所述第二光信号与所述第二反射信号，得到第二相位差；

根据所述第一相位差计算得出第一距离；

根据所述第一距离与所述第二光信号对应的测量量程计算得出第三相位差；所述第三相位差为由于所述第二光信号的周期性而缺失的所述第二光信号与所述第二反射信号的相位差；

根据所述第二相位差与所述第三相位差的和，计算得出第二距离，作为对所述被测物体的测距结果。

4.根据权利要求3所述的测距装置，其特征在于，所述处理芯片还用于：

将所述第一距离除以所述测量量程得到的商向下取整得到的整数，作为所述缺失的所述第二光信号与所述第二反射信号的相位周期数目；

根据所述相位周期数目计算得出所述第三相位差。

5.根据权利要求3所述的测距装置，其特征在于，在所述同一时间间隔内，所述感光元件面阵列中奇数行感光元件用于接收所述第一反射信号，偶数行感光元件用于接收所述第二反射信号，或者

所述感光元件面阵列中奇数行感光元件用于接收所述第二反射信号，偶数行感光元件用于接收所述第一反射信号，或者

所述感光元件面阵列中奇数列感光元件用于接收所述第一反射信号，偶数列感光元件用于接收所述第二反射信号，或者

所述感光元件面阵列中奇数列感光元件用于接收所述第二反射信号，偶数列感光元件用于接收所述第一反射信号。