[发明专利]一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备及方法

说明书

技术领域

本发明属于微波技术领域，尤其涉及一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备及方法。

背景技术

目前，在微波行业中，正常的微波产品在半成品阶段是直接连接噪声分析测试系统测试，此方案仅限于裸机测试，但在装CAP(防尘/防水盖)后，对产品输入的卫星信号的干扰和衰减未进行测试，因微波产品最终是工作在装配CAP情况下的，因此需要对带CAP的微波产品进行测试，验证其对信号的频闭和衰减。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，旨在解决现有技术中未对带CAP的微波产品进行噪声测试的技术问题。

本发明是这样实现的：提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，包括与待测微波产品连接且用于与待测微波产品导波口装配CAP后匹配的测试治具、与待测微波产品连接且用于给待测微波产品提供全频段工作切换电压及切换工作频率的固有模拟装置、与所述测试治具连接的杂讯源、分别与所述固有模拟装置和杂讯源连接的噪声分析仪，以及与所述固有模拟装置连接的供电电源。

进一步地，所述设备还包括用于固定所述待测微波产品、杂讯源和测试治具的测试支架。

进一步地，所述测试支架呈L字型。

进一步地，所述噪声分析仪输出的中频信号为10M-3GHz。

进一步地，所述供电电源为直流电源。

进一步地，所述供电电源为所述固有模拟装置提供0V-30V直流稳定电压。

进一步地，所述待测微波产品与所述测试治具无缝对接。

本发明还提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的方法，包括以下步骤：

A、在测试低频段时，测试的频率范围为950MHz-1950MHz，将待测微波产品接上固有模拟装置，固有模拟装置固定于低频段，然后切换13/18V，同时将待测微波产品转动90°；在测试高频段时，测试的频率范围为1100MHz-2150MHz，将待测微波产品接上固有模拟装置，固有模拟装置固定于高频段，然后切换13/18V，同时将待测微波产品转动90°；

B、将噪声分析仪测试频率点调整至所需测试信号频率点静止，对噪声分析仪上所选频率点进行读数；

C、测试完成后将测试数据与标准规格进行对比。

进一步地，所述方法还包括在测试前将供电电源调试至20V-22V之间。

进一步地，所述方法还包括在测试前对所述噪声分析仪进行设置：首先输入中频信号频率，然后输入待测微波产品本机振荡频率，再输入待测微波产品特性规格参数，最后输入杂讯源的杂讯值，进行仪器校准。

实施本发明的一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，具有以下有益效果：其通过测试待测微波产品装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接或间接在另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接或间接连接到另一个元件。

还需要说明的是，本发明实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。