[发明专利]液晶显示面板及其检测方法

说明书

本申请公开了一种液晶显示面板及其检测方法。所述液晶显示面板包括：基板；多组检测单元，形成在所述基板上，所述多组检测单元中的每组检测单元包括：沿第一方向延伸并沿第二方向排列的多条信号线；以及多条短路棒，每条短路棒分别与一所述信号线的第一端连接，且各短路棒沿第一方向阶梯状排列，其中，分别连接至各检测单元中对应信号线的多个短路棒在第二方向上排列成行，形成短路棒组。由此在液晶显示面板的检测过程中取消了对信号线进行切断的过程，操作方便，且可以有效地提高液晶显示面板的利用率。

技术领域

本发明涉及液晶显示装置技术领域，更具体地，涉及一种液晶显示面板及其检测方法。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)是利用液晶材料的特性来显示图像的一种平板显示装置，其相较于其他显示装置而言具轻薄、低驱动电压及低功耗等优点，已经成为整个消费市场上的主流产品。

通常，液晶显示装置包括用于显示画面的液晶显示面板和用于向所述液晶显示面板提供驱动信号的驱动电路模块，所述液晶显示面板包括玻璃基板，形成在所述玻璃基板上的多条扫描线和多条数据线，由扫描线和数据线的相互交叉而限定出的多个像素区域，设置在相应的每个像素区域中的像素电极，和与每个像素电极连接的薄膜晶体管(ThinFilm Transistor，TFT)。其中，多条扫描线以固定的间隔彼此分开并沿着第一方向延伸，而多条数据线以固定的间隔彼此分开并且沿着基本上垂直于第一方向的第二方向延伸；所述薄膜晶体管能够响应提供给相应的每条扫描线的信号并将来自数据线的信号发送给对应的每个像素电极。

在液晶显示装置的制造过程中，为了节省成本以及有效的控制良率，在向液晶显示面板上安装驱动电路模块之前，需要对液晶显示面板进行电性测试，以检出不能正常工作的液晶显示面板，从而在后续工艺前及时的排除不良产品，以此来节约生产成本。

目前的一种检测方法是用若干短路棒(shorting bar)分别将各信号线(数据线或扫描线)短路连接在一起，再通过所述短路棒向薄膜晶体管阵列输入测试信号，测试完成后用激光将短路棒与各信号线的连接切断，以便进行下一步的驱动电路模块组装。

可是在实践中，发明人发现现有技术因为增加了激光切割这一工序，增加了制程。且受制程切割精度控制的制约，现有技术的激光切断区域的宽度为30-120um，所以为了防止后段模组组装中，模组COF(Chip On FPC，覆晶薄膜)压接制程的芯片等部件的金属部分可能与短路棒区域的线路连接而发生短路，而造成显示不良，一般需要在激光切除区域与模组COF压接区域之间预留一定的安全区域。

上述设计结构使得液晶显示面板在模组COF压接区域外部增加了很多区域，从而导致液晶显示面板的浪费，降低了液晶显示面板的利用率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种液晶显示面板及其检测方法，其可以解决在采用短路棒技术对阵列基板进行检测时需增加激光切割这一步骤所带来的制程增加以及对液晶显示面板的空间浪费的问题。

为了解决上述技术问题，根据本发明的第一方面，提供一种液晶显示面板，包括：基板；多组检测单元，形成在所述基板上，所述多组检测单元中的每组检测单元包括：沿第一方向延伸并沿第二方向排列的多条信号线；以及多条短路棒，每条短路棒分别与一所述信号线的第一端连接，且各短路棒沿第一方向阶梯状排列，其中，分别连接至各检测单元中对应信号线的多个短路棒在第二方向上排列成行，形成短路棒组。

优选地，还包括:形成在所述基板上的多个探针，所述探针沿第一方向按列排列，且分别与对应短路棒组在第二方向上相对设置。

优选地，还包括：多个薄膜挡片，在检测时，所述薄膜挡片短接对应短路棒组中的全部短路棒，且所述薄膜挡片的第一端分别连接至对应探针。

优选地，所述短路棒的形状为沿第一方向延伸的条状。