[发明专利]具有独特形貌的磨粒

说明书

本发明专利申请是国际申请号为PCT/US2009/057133，国际申请日为2009年9月16日，进入中国国家阶段的申请号为200980144704.3，发明名称为“具有独特形貌的磨粒”的发明专利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

本申请涉及并要求保护2008年9月16日提交的美国临时专利申请序列号61/097,422、2008年9月16日提交的美国临时专利申请序列号61/097,438和2009年6月17日提交的美国临时专利申请序列号61/187,789的优先权。

技术领域和工业实用性

本发明涉及具有独特形貌的磨粒。更特别地，本发明涉及对金刚石微粒的表面粗糙化以提高其在工业应用中的性能。

附图说明

图1A-1F是常规单晶金刚石、使用镍涂覆工艺改性的金刚石和使用铁粉末工艺改性的金刚石的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图2是显示4-8μm金刚石微粒，例如粉末，在改性之前和之后的物理特征和性能的表1。

图3是显示常规金刚石粉末、使用镍涂覆工艺改性的金刚石粉末和使用铁粉末工艺改性的金刚石粉末的表面粗糙度分布的图表。

图4是显示常规金刚石粉末、使用镍涂覆工艺改性的金刚石粉末和使用铁粉末工艺改性的金刚石粉末的球度分布的图表。

图5是显示由使用由包括使用镍涂覆工艺改性的金刚石粉末的各种金刚石粉末制成的浆料的研磨工艺得到的蓝宝石晶片的材料去除速度和所得到的表面光洁度的图表。

图6A和6B是常规金刚石微粒(6A)和改性金刚石微粒(6B)的对比图。

图7是常规金刚石微粒的SEM图像。

图8是使用镍涂覆工艺改性的金刚石微粒的SEM图像。

图9A-9D是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图10A-10D是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图11A-11D是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图12是常规单晶金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图13显示了描述一种实施方案的金刚石微粒的特征和性能的表1。

图14是描绘一种实施方案的金刚石微粒的特征和性能的图表。

图15是显示一种实施方案的金刚石微粒的特征的图表。

图16是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图17是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图18是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图19是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图20是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图21是一种实施方案的金刚石微粒的扫描电子显微镜(SEM)图像。

图22是比较常规单晶金刚石微粒、常规多晶金刚石微粒和一种实施方案的单晶金刚石微粒的研磨性能的图表。

图23显示了包含实验条件的表2。

图24是补充“定义”部分的说明。

图25是补充“定义”部分的说明。

图26是补充“定义”部分的说明。

图27A和27B是一种实施方案的金刚石微粒的SEM图像。

发明详述

在描述本发明的方法、体系和材料之前，应当认识到本发明并不局限于所述的特定方法、体系和材料，因为其可能改变。也应当认识到在本说明书中使用的术语仅用于描述特定的形式或实施方案，并不旨在限定范围。例如，除非上下文中有明确的相反指示，在此处和附属的权利要求中所用的单数形式“一个”、“一种”、“该”和“所述”包括复数含义。另外，此处所用的词语“包括”旨在表示“包括但不局限于”。除非有相反的指示，此处所用的技术和科学术语具有与本领域普通技术人员通常理解的相同的含义。

除非有相反的指示，在本说明书和权利要求中使用的所有表示组分的量、性质，例如尺寸、重量、反应条件等，的数值都应当理解为在所有情况下都被术语“约”修饰。因此，除非有相反的指示，在以下说明书和附属权利要求中提出的数值参数都是近似值，其可以根据本发明寻求达到的理想性质而改变。在最低限度且并不作为限制与权利要求范围等效的条款应用的尝试，各数值参数应当至少按照所给出的有效数字位数并通过应用常规取整技术来解释。