[发明专利]一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置

权利要求书

1.一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供一种样品切光装置，所述样品切光装置包括：一安装在面探测器的直通光束阻挡片上并与一外围控制计算机连接的光电二极管，所述直通光束阻挡片上设有两个引线孔，以供所述光电二极管的两根引线穿过；一安装在所述光电二极管前面的X光衰减片，以挡住可见光而允许X光穿过，同时避免光电二极管饱和；以及一套设于所述光电二极管上的套子，且所述X光衰减片安装于所述套子的前端；以及

预先调节所述光电二极管的位置使其正对入射X光光束，通过控制器调节衍射仪样品台或样品的高度，以及转动样品台或样品的旋转角度，同时通过所述外围控制计算机观察光电二极管的读数变化，使得入射光恰好从样品表面掠过，且样品表面与入射光平行，即可实现对样品的切光。

2.根据权利要求1所述的用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光方法，其特征在于，所述光电二极管粘贴在所述直通光束阻挡片上。

3.根据权利要求1所述的用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光方法，其特征在于，所述X光衰减片由铝箔构成。

4.根据权利要求3所述的用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光方法，其特征在于，所述X光衰减片由多片铝箔叠置而成。