[发明专利]一种合成孔径雷达实时成像处理器故障快速定位方法有效
申请号: | 201611190351.9 | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN106597397B | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 牛晓丽;秦于华;王岩飞;刘畅 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 合成孔径雷达 实时 成像 处理器 故障 快速 定位 方法 | ||
1.一种合成孔径雷达实时成像处理器故障定位方法,其中,合成孔径雷达实时成像处理器包括一个或多个处理节点,该方法包括:
S101:选取所述合成孔径雷达实时成像处理器的最后一处理节点作为当前处理节点,将该当前处理节点设置为测试工作状态,其前面的处理节点设置为正常工作状态;
S102:向所述合成孔径雷达实时成像处理器输入测试数据,所述合成孔径雷达实时成像处理器对所述测试数据进行处理,输出处理后的数据;
S103:将所述处理后的数据与预存的正确处理后数据进行对比,若两个数据之差在预定范围内,则判定所述当前处理节点无故障,执行步骤S104;否则,判定该当前处理节点有故障,执行步骤S105;
S104:将相邻的前一个处理节点作为当前处理节点,并将该当前处理节点及其后的处理节点设置为测试工作状态,其前面的处理节点设置为正常工作状态,重复执行S102-S103,直至判定该当前处理节点有故障;
S105:对有故障的处理节点进行排故以修复故障,然后,合成孔径雷达实时成像处理器的所有处理节点设置为正常工作状态,测试是否存在故障,如果没有,则故障定位测试结束;如果有,以排故后的故障处理节点作为当前处理节点,并将该当前处理节点及其后的处理节点设置为测试工作状态,其前面的处理节点设置为正常工作状态,执行S102-S105,完成对所有处理节点的测试。
2.根据权利要求1所述的合成孔径雷达实时成像处理器故障定位方法,其中,该合成孔径雷达实时成像处理器在某一处理节点具有多个分支处理节点,对含有分支处理节点的处理节点按如下步骤进行故障定位:
S201:选取具有分支处理节点的处理节点的第一个分支处理节点作为当前处理节点,将该当前处理节点及其后的处理节点设置为测试工作状态,当前处理节点位置的其他分支处理节点及其前面的处理节点设置为正常工作状态;
S202:向所述合成孔径雷达实时成像处理器输入测试数据,所述合成孔径雷达实时成像处理器对所述测试数据进行处理,输出处理后的数据;
S203:将所述处理后的数据与预存的正确处理后数据进行对比,若两个数据之差在预定范围内,则判定所述当前处理节点无故障,执行步骤S204;否则,判定该当前处理节点有故障,执行步骤S205;
S204:将下一个分支处理节点作为当前处理节点,并将该当前处理节点及其后的处理节点设置为测试工作状态,当前处理节点位置的其他分支处理节点及其前面的处理节点设置为正常工作状态,重复执行S202-S203,直至判定该当前处理节点有故障;
S205:对有故障的处理节点进行排故以修复故障,然后,合成孔径雷达实时成像处理器的所有处理节点设置为正常工作状态,测试是否存在故障,如果没有,则故障定位测试结束;如果有,以排故后的故障处理节点作为当前处理节点,将该当前处理节点及其后的处理节点设置为测试工作状态,当前处理节点位置的其他分支处理节点及其前面的处理节点设置为正常工作状态,执行S202-S205,完成对所有分支处理节点的测试。
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