[发明专利]一种红外触摸屏定位精度的模拟分析方法

说明书

本发明公开了一种红外触摸屏定位精度的模拟分析方法，包括如下步骤：（1）预先设定要分析的触摸屏的物理尺寸和红外发射及接收管的位置分布坐标，生成光路图，提取触摸屏的有效触摸区域，作为最大盲区的评估区域，所述盲区指的是没有光线通过的区域；（2）分析水平方向有效触摸区域的最大盲区和分析垂直方向有效触摸区域的最大盲区，所述最大盲区的值越小，精度越高。利用上述方案，可以对最大光路设计盲区进行量化；对触摸屏设计具有指导意义，缩短设计开发周期，而且不需要先制作样品再测试，非常直观，降低了设计成本。

技术领域

本发明涉及触摸屏领域，尤其涉及一种红外触摸屏定位精度的模拟分析方法。

背景技术

现有红外触摸技术中，对红外触摸屏进行触摸定位是借助于触摸物遮挡了发射灯光线，根据被遮挡的光线信息来进行定位该触摸物的位置。

在高精度触摸屏中，光路设计由水平和垂直两组发射和接收灯管产生的扫描光线形成，通过数据解析得到水平和垂直两条边的单方向数据图像，然后将水平和垂直边分别得到的单方向数据图像进行图像叠加，得到最终的光路图像；

定位触摸物体的位置精度与红外发射灯和多轴（一个发射灯对多个接收灯）扫描角度设计有直接关系，发射灯和接收灯的间距直接影响了触摸屏的精度；触摸屏的精度指的是实际触摸位置坐标与触摸屏识别出来的位置坐标的偏差，偏差越小精度越高。在相同的灯排布条件下，多轴扫描时，光路设计也是影响精度的关键。在有限的红外灯条件下，好的光路设计对最终触摸精度有直接的影响。

光路设计完成后，对应精度主要受单方向精度差的扫描边影响，对应单方向某个区域的最大盲区直接表征了屏的精度。

现有技术测试触摸屏的精度通常采用制作样品进行测试，设计周期长，成本高，还没有出现一种利用计算机模拟分析触摸屏精度的方法，无法量化光路盲区，不能直观的表现该光路设计存在的问题。

发明内容

本发明的目的在于针对现有的缺陷，提供一种红外触摸屏定位精度的模拟分析方法，尤其是红外扫描边界定位精度的最小分辨率评估方法。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种本发明提供一种红外触摸屏定位精度的模拟分析方法，包括如下步骤：

（1）预先设定要分析的触摸屏的物理尺寸和红外发射及接收管的位置分布坐标，生成光路图，提取触摸屏的有效触摸区域，作为最大盲区的评估区域，所述盲区指的是没有光线通过的区域；

（2）分析水平方向有效触摸区域的最大盲区和分析垂直方向有效触摸区域的最大盲区，所述最大盲区的值越小，精度越高。

优选地，所述步骤（1）包括：

A、设定需要模拟的触摸屏的尺寸、红外发射管与红外接收管的位置坐标及光路对应表，按照模拟设计的触摸屏物理尺寸，以及对应的光路设计配置表，按照固定的比例，生成对应真实光路的模拟光路图；

B、排除非触摸区域，获取有效触摸区域；

C、通过垂直边光路设计数据构建垂直边单方向扫描图像，通过水平边光路设计数据构建水平边单方向光路图，提取出对应的有效触摸区域光路图。

优选地，所述步骤（2）中分析水平方向有效触摸区域的最大盲区包括：

第一步，图像求反，把盲区作为目标；

第二步，对目标进行图像形态学腐蚀操作，去除小的孔洞噪声；

第三步，轮廓遍历，提取出最大的盲区的轮廓信息，计算该盲区轮廓的最小面积的外接矩形信息，包括轮廓的长度和高度，以及中心位置信息，完成水平方向最大盲区的计算。

优选地，所述步骤（2）中分析垂直方向有效触摸区域的最大盲区包括：

第一步，图像求反，把盲区作为目标；