[发明专利]荧光免疫层析测试基线数据的处理方法

说明书

本发明提供了一种处理荧光免疫层析测试基线数据的方法，包括提供一免疫层析试纸条、一激发光源和一受激光读取装置，使所述激发光源产生激发光，照射在所述层析试纸条的近端上，从而形成光斑，并通过所述受激光读取装置读取光斑区域发出的受激光；通过所述控制装置控制光斑在试纸条上沿层析试纸条的近端至远端方向，从当前位置移动到下一位置，并读取下一位置处光斑区域发出的受激光；基于读取的受激光信号强度，采用拟合基线法确定基线所在曲线。

技术领域

本发明属于检测领域，具体地说，本发明涉及一种荧光免疫层析测试数据优化处理方法，更具体地，本发明涉及一种荧光测试仪的基线数据处理方法。

背景技术

荧光检测仪器输出的谱图中，通常会使用信号值与基线值的差值作为该组样本的有效信号强度，这样可以消除由于测试片批号不同、免疫反应批间差异等系统误差造成的干扰因素。荧光微球在试纸条上利用毛细管作用移动初期，由于颗粒数量较多，往往此时基线数值偏高(如图1(b)红色虚线基线)；随着荧光微球经过测试线时，与测试线上抗体结合后，荧光微球数量减少，此时基线数值偏低(图1(b)蓝色虚线基线)。当信号峰值较高时，选取信号峰左右两侧不平基线之一或是两者平均值，对有效信号强度影响不大；但当信号峰值偏低时，基线数值不同的读取方式，对有效信号强度结果干扰极为明显。

输出的谱图中，不同强度的信号峰值通常分为高值信号峰和低值信号峰，如图2(a)和图2(b)所示。

基于荧光微球在试纸条上迁移的方式，信号峰前的基线数值通常会比信号峰后的基线数值高，这个现象在低值信号峰上尤为明显，常常使得低值信号峰呈现非高斯分布态。

因此，本领域迫切需要研究出一种荧光检测中新的基线处理方式，尤其是改善低信号峰值区的信号结果，提高数值的准确度和灵敏度，从而优化检测结果的准确度和灵敏度。

发明内容

本发明的目的是提供一种新的确定荧光检测结果基线的方法。

本发明的第一方面，提供一种处理荧光免疫层析测试基线数据的方法，包括步骤：

(1)提供一免疫层析试纸条、一激发光源和一受激光读取装置，其中，

所述激发光源用于产生激发光，所述激发光被照射在所述层析试纸条上，从而形成光斑；

并且所述的激发光源配有控制装置，用于控制所述的免疫层析试纸条和所述激发光源的相对位置，从而使得所述光斑沿所述层析试纸条的长度方向进行移动；

其中，所述的免疫层析试纸条设有测试线，所述试纸条长度为L₀，宽度为W₀，所述测试线长度为L_t；

(2)使所述激发光源产生激发光，照射在所述层析试纸条的近端上，从而形成光斑，并通过所述受激光读取装置读取光斑区域发出的受激光；

(3)通过所述控制装置控制光斑在试纸条上沿层析试纸条的近端至远端方向，从当前位置移动到下一位置，并读取下一位置处光斑区域发出的受激光；

(4)重复步骤(3)Z-1次，Z为≥10的正整数，直至所述光斑扫过测试线；

(5)基于读取的受激光信号强度，设信号峰前n个点的信号强度值的算术平均值为设信号峰后m个点的信号强度值的算术平均值为当时，采用拟合基线法确定基线所在曲线，其中，n≥2，且m≥2。

在另一优选例中，当时，采用拟合基线法确定基线所在曲线，其中，I_peak为信号峰顶点对应的信号值。

在另一优选例中，3≤n≤12。

在另一优选例中，3≤m≤12。