[发明专利]存储器装置与其相关的控制方法有效

专利信息
申请号: 201611180222.1 申请日: 2016-12-19
公开(公告)号: CN108206039B 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 张国彬 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C16/16 分类号: G11C16/16;G11C16/22;G11C16/24
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 装置 与其 相关 控制 方法
【说明书】:

发明为一种进行一擦除操作的存储器装置与其相关的控制方法。存储器装置包含:译码电路、Q个开关电路与Q个存储器区块。译码电路产生Q个选取信号,其中Q个选取信号中的第k个选取信号为第一选取电压,且其余的(Q‑1)个选取信号为第二选取电压。Q个开关电路接收擦除电压,并根据Q个选取信号而分别产生Q个共源极信号。其中,Q个开关电路中的第k个开关电路产生具有擦除电压的第k个共源极信号。Q个存储器区块分别接收Q个共源极信号,并根据第k个共源极信号而擦除Q个存储器区块中的第k个存储器区块。

技术领域

本发明是涉及一种存储器装置与其相关的控制方法,且特别涉及一种进行擦除操作的存储器装置与其相关的控制方法。

背景技术

闪存(flash memory)是一种相当普遍的非易失性存储器(non-volatilememory)。闪存可分为或非门(NOR)型与与非门(NAND)型。由于NAND型闪存具有较快的擦写速度,且每个储存单元的面积也较小,NAND型闪存的用途也较广。

NAND型闪存芯片由多个存储器区块(block)构成,每个存储器区块进一步包含多个彼此串接的晶体管(存储单元)。随着读取(read)、写入(write)、擦除(erasure)等不同用途,存储器控制器(memory controller)也会通过列控制器(row decoder),对存储单元的栅极(gate)、源极(source)与漏极(drain)施加不同的电压。

擦除闪存时,需以存储器区块为基本单位。NAND型闪存经常使用广域共源极信号线(global common source line,简称为GCSL)的架构。因此,若要对一选定的存储器区块(擦除存储器区块)进行擦除时,不仅会将擦除存储器区块的共源极信号线(common sourceline,简称为CSL)连接至高电平,还会将与其余存储器区块(未擦除存储器区块)对应的共源极信号线CSL都共同连接至高电平。以下将广域共源极信号线上的信号定义为广域共源极信号,并以GCSL同时表示广域共源极信号(线);以及,将共源极信号线上的信号定义为共源极信号,并以CSL表示共源极信号(线)。

请参见图1,其为NAND型闪存使用广域共源极信号线架构的示意图。此处假设NAND闪存的存储器阵列11包含Q个存储器区块BLK(q),q=1~Q。其中,每一个存储器区块BLK(q)各自包含M个晶体管串列MS(q,1)~MS(q,M)。为便于说明,本文以晶体管串列所在的存储器区块,以及在存储器区块内的位置代表各个存储器区块。例如,晶体管串列MS(1,1)代表位于第一个存储器区块BLK(1)的第一组晶体管串列;晶体管串列MS(1,M)代表位于第1个存储器区块BLK(1)的第M组晶体管串列;晶体管串列MS(Q,M)代表位于第Q各存储器区块BLK(Q)的第M组晶体管串列;晶体管串列MS(Q,M)代表位于第Q各存储器区块BLK(Q)的第M组晶体管串列,其余类推。

NAND型闪存内的每一个存储器区块(BLK(1)~BLK(Q))均通过与其对应共源极信号线CSL(1)~CSL(Q)电连接至广域共源极信号线GCSL。图1以底纹代表被选取进行擦除的擦除存储器区块BLK(k)。此处假设存储器控制器选择对存储器区块BLK(1)进行擦除,并将其定义为擦除存储器区块BLK(k),k=1。

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