[发明专利]成像系统

说明书

本发明涉及一种成像系统，包括：安装在天线模块周围的指示器，其中，指示器的光学特性根据由天线模块形成的电磁场而改变；成像装置，用于对指示器的光学特性的改变进行成像；发射器，用于朝向天线模块辐射无线电波；和接收器，用于从天线模块接收信号。

技术领域

本公开的实施例涉及成像系统，并且更特别地涉及使用光弹性效应(photoelastic effect)的成像系统。

背景技术

随着信息和通信技术的快速发展，对于基于高频段的宽带通信系统的需求急剧增加。于是，需要用于验证和检验诸如具有天线的微波器件的技术。

作为用于检验天线的特性的方法，用于对天线的电磁场成像的技术吸引人们的兴趣，并且正在开发用于实现成像技术的各种扫描和光学技术。

已知的方法是使用扫描探针测量电磁场的技术。然而，使用扫描探针测量电磁场的技术需要较长测量时间，并且很难设计用于此类测量的探针。

作为另一个方法，使用电光效应和磁光效应的光学指示器方法是已知的。然而，光学指示器方法需要具有电光效应或磁光效应的材料，需要电磁场与用于测量的光学信号同步，具有有限的带宽和/或需要外部磁场。

发明内容

因而，本公开的一个方面提供了使用光弹性效应的成像系统。

本公开的另一个方面提供了能够对电磁场进行快速成像的成像系统。

本公开的一个方面提供了能够在宽区域上对电磁场进行成像的成像系统。

本公开的一个方面提供了能够对天线的电磁场进行成像而不用拆卸天线的成像系统。

将在以下的描述中部分地阐述本公开的额外的方面，并且部分地，本公开的额外的方面将从描述很明显，或可以通过本公开的实践学习本公开的额外的方面。

根据本公开的一个方面，一种成像系统可以包括：安装在天线模块周围的指示器，其中，所述指示器的光学特性按照或根据由所述天线模块形成的电磁场而改变；成像装置，用于对所述指示器的光学特性的改变进行成像；发射器，用于朝向所述天线模块辐射无线电波；和接收器，用于从所述天线模块接收信号。

所述指示器可以包括：损耗膜，被由所述天线模块形成的电磁场部分地加热；和光弹性板，其中，所述光弹性板的一部分的光学特性因所述损耗膜的部分加热而改变。

所述光弹性板可以通过所述损耗膜的部分加热而被部分地加热，并且所述光弹性板的被部分加热的部分的光学特性可以因光弹性效应而改变。

在所述光弹性板的光学特性改变的所述光弹性板的那部分中发生双折射。

所述成像装置可以包括：光源，用于产生光；线偏振器，用于使所述光源产生的光线偏振；圆偏振器，用于使线偏振光圆偏振；分束器，用于使圆偏振光入射到所述指示器；分析器，用于使穿过所述指示器的光线偏振；和相机，用于接收穿过所述分析器的光。

穿过所述指示器的光学特性改变的所述指示器的一部分的光可以被椭圆偏振。

所述成像装置还可以包括：控制器，用于处理由所述相机获取的图像，并且生成表示由所述天线模块形成的电磁场的样品图像；和储存器件，用于储存表示由所述天线模块形成的电磁场的样品图像。

所述相机可以获取当所述分析器的偏振方向相对于所述线偏振器的偏振方向成45度的角度时的第一图像和当所述分析器的偏振方向相对于所述线偏振器的偏振方向成90度的角度时的第二图像。

所述控制器可以从所述第一图像和所述第二图像生成表示由所述天线模块形成的电磁场的样品图像。

所述控制器可以生成表示所述样品图像与储存在所述储存器件中的基准图像之间的差值的差值图像。