[发明专利]串联供电芯片和系统、虚拟数字币挖矿机、及服务器在审

专利信息
申请号: 201611169618.6 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106774767A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 詹克团;谢丹;朱国军;孙国臣 申请(专利权)人: 算丰科技(北京)有限公司
主分类号: G06F1/26 分类号: G06F1/26;G06F1/18
代理公司: 北京思元知识产权代理事务所(普通合伙)11598 代理人: 杨惠
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 串联 供电 芯片 系统 虚拟 数字 币挖矿机 服务器
【说明书】:

技术领域

发明涉及电源供电技术,特别是涉及一种串联供电芯片和系统、虚拟数字币挖矿机、及服务器。

背景技术

目前市场上的比特币矿机基本都是采用DC/DC(直流转直流)芯片的并联型挖矿机,由于DC/DC存在转化效率低的问题,造成了电源能量的浪费,同时,DC/DC芯片的电路设计比较苛刻,增加了设计的要求和生产设计的成本。

随着半导体工艺的发展,芯片的工作电源电压越来越低,工作电流越来越大,为了最大化电源的转换效率,现有技术在印刷电路板(Printed circuitboard,PCB)上采取芯片串联的供电方式,即:芯片的电源和地首尾相连形成多级串联的电压域,每个电压域拥有一颗或几颗芯片。

发明内容

本发明实施例提供一种进行串联供电的技术方案。

本发明实施例的一个方面,提供的一种串联供电芯片,所述串联供电芯片包括n个串行连接的待供电单元,所述n个待供电单元采用串联方式进行供电,在每个待供电单元上分别形成一个电压域,所述串联供电芯片的电源电压形成n级串联的电压域,其中,n为大于1的整数;相邻待供电单元之间串行连接一个信号电平转换单元,用于在连接的相邻两个待供电单元之间进行通信信号的电平转换。

可选的,所述串联供电芯片中还包括n个独立设置的、用于实现不同电压域之间隔离的深阱,所述n个待供电单元中的每个待供电单元分别位于一个深阱中。

可选的,所述深阱包括N型深阱DEEP-NWELL或者P型深阱DEEP-PWELL。

可选的,每个所述信号电平转换单元分别包括高到低信号电平转换模块和低到高信号电平转换模块。

可选的,每个所述信号电平转换单元分别位于一个深阱中;每个深阱中的待供电单元,分别通过所述信号电平转换单元中的低到高信号电平转换模块与上一级电压域中的待供电单元连接,通过所述信号电平转换单元中的高到低信号电平转换模块与下一级电压域中的待供电单元连接。

可选的,每个所述待供电单元中分别包括一个或多个并行连接的芯片内核;每个所述待供电单元中的各芯片内核分别与所在待供电单元连接的信号电平转换单元连接。

可选的,每个芯片内核分别包括一组计算单元和/或存储单元。

可选的,所述信号电平转换单元具体采用电容耦合法、差分信号传输法和/或二极管压降法实现。

本发明实施例的另一个方面,提供的一种串联供电系统,包括控制装置,和在供电端与地之间串行连接的、m个如权利要求1至8任意一项所述的串联供电芯片;在每个串联供电芯片上分别形成一个大电压域,所述串联供电系统在电源和地之间形成m级串联的大电压域;分别在相邻两个串联供电芯片之间串行连接一个信号转换装置,用于对连接的相邻两个串联供电芯片之间电平信号和差分信号的转换;所述控制装置分别与各信号转换装置连接,用于控制各信号转换装置进行电平信号和差分信号的转换;

其中,每级大电压域包括对应串联供电芯片的n级串联的电压域,m为大于1的整数。

本发明实施例的又一个方面,提供的另一种串联供电系统,包括控制装置,和在供电端与地之间串行连接的、m个如权利要求1至8任意一项所述的串联供电芯片;在每个串联供电芯片上分别形成一个大电压域,所述串联供电系统在电源和地之间形成m级串联的大电压域;分别在各串联供电芯片与地之间串行连接一个信号转换装置,用于实现连接的串联供电芯片与地之间电平信号和差分信号的转换;所述控制装置分别与各信号转换装置连接,用于控制各信号转换装置进行电平信号和差分信号的转换;

其中,每级大电压域包括对应串联供电芯片的n级串联的电压域,m为大于1的整数。

可选的,还包括调整电路,分别与各串联供电芯片连接,对各串联供电芯片进行电压、温度或频率调整。

可选的,所述调整单元对各串联供电芯片进行频率调整时,具体用于:

分别针对各串联供电芯片,按照预设周期检测串联供电芯片中各待供电单元的工作状态是否正常;

若有待供电单元的工作状态不正常,在预设频率范围内按照预设频率步长提高或降低工作状态不正常的待供电单元的工作频率。

可选的,还包括分别为m个串联供电芯片对应设置的m个风扇,每个风扇用于为对应的串联供电芯片进行散热;

所述调整单元对各串联供电芯片进行温度调整时,具体用于:

分别针对各串联供电芯片,按照预设周期检测串联供电芯片中各待供电单元的工作状态是否正常;

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