[发明专利]磁控溅射低温制备二氧化钒薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201611155264.X 申请日: 2016-12-14
公开(公告)号: CN108220897B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 曹逊;金平实;常天赐;龙世伟;孙光耀 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/08
代理公司: 31261 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 郑优丽;熊子君<国际申请>=<国际公布>
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 二氧化钒薄膜 磁控溅射 低温制备 衬底 可见光区域 二氧化钒 晶格常数 模板诱导 生长过程 缓冲层 优选 制备 薄膜 匹配 透明 生长
【权利要求书】:

1.一种低温沉积二氧化钒热致变色薄膜的方法,其特征在于,包括:

(1)在玻璃衬底上制备Cr2O3层,所述Cr2O3层通过磁控溅射方法制备,所述Cr2O3层的制备中,

以Cr为靶材,溅射电源采用直流或射频溅射,以高纯Ar气和O2气为工作气体,Ar气和O2气流量比为(0.25~4):1;或者以Cr2O3陶瓷为靶材,溅射电源采用射频溅射,以Ar工作气体;

背底真空小于5×10-3Pa,溅射时工作气体的总压保持在0.2~1.2Pa,衬底温度为150~190℃,溅射功率为50~200 W;

(2)在形成有Cr2O3层的玻璃衬底上磁控溅射二氧化钒薄膜,二氧化钒薄膜的制备中,

以金属V靶为靶材,溅射方式采用直流或射频,以高纯Ar气和O2气为工作气体,Ar气和O2气流量比(10~12):1;或者

以V2O3靶或VO2靶为靶材,溅射方式采用直流或射频,以高纯Ar气和O2气为工作气体,Ar气和O2气流量比为(20~40):1;或者

以V2O5靶为靶材,溅射方式采用射频,以高纯Ar气和H2气为工作气体,Ar气和H2气流量比为(15~40):1,

背底真空小于5×10-3Pa,溅射时工作气体的总压保持在0.2~1.2Pa,衬底温度为150~190℃,溅射功率为20 ~200W。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述Cr2O3层的厚度为10~200 nm。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,二氧化钒薄膜的厚度为20~200 nm。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,磁控溅射二氧化钒薄膜后无需退火处理。

5.一种由权利要求1至4中任一项所述的方法制备的二氧化钒热致变色薄膜。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海硅酸盐研究所,未经中国科学院上海硅酸盐研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611155264.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top