[发明专利]一种可调谐激光波长检测方法及装置有效
申请号: | 201611140880.8 | 申请日: | 2016-12-12 |
公开(公告)号: | CN106525097B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 杨炳雄;白志平;宋霄;门超;李雷 | 申请(专利权)人: | 大连艾科科技开发有限公司 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353;G01D21/02 |
代理公司: | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 | 代理人: | 孟凡臣 |
地址: | 116600 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 中心波长 光电流曲线 光纤光栅 驱动电流 漂移量 可调谐激光 波长检测 物理参数 变化量 光纤光栅中心波长 物理参数变化 体积小 检测 | ||
1.一种可调谐激光波长的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:激光器的发光端与光探测器连接,在待测物理参数恒定的状态下向激光器输入等间隔增大的驱动电流,并记录各驱动电流下光探测器输出的光电流值,做出驱动电流-光电流曲线;
S2:保持待测物理参数恒定且与S1中的待测物理参数相同,等间隔增大所述驱动电流,并记录各驱动电流下激光器的光谱并记录激光器发光的中心波长,做出驱动电流-中心波长曲线;
S3:根据S1中所得的驱动电流-光电流曲线和S2中所得的驱动电流-中心波长曲线得出中心波长-光电流曲线;
S4:用光探测器检测光栅返回到光探测器的光强,并转化为电流输出,根据S1-S3得出第一状态下的中心波长-光电流曲线,得出第一光纤光栅的中心波长;
S5:当所述待测物理参数发生变化时,根据S1-S3得出第二状态下的中心波长-光电流曲线,得出第二光纤光栅的中心波长;
S6:对比所述第一光纤光栅的中心波长和所述第二光纤光栅的中心波长,即为待测物理参数变化光纤光栅中心波长的漂移量,根据所述漂移量即可得出待测物理参数的变化量。
2.根据权利要求1所述的可调谐激光波长的检测方法,其特征在于,在步骤S4之前,还包括步骤S31:若激光器的调制范围没有覆盖到光纤光栅的中心波长,光探测器输出的光电流近乎为零,调节激光器的调制范围,使其覆盖到光纤光栅的中心波长。
3.根据权利要求1或2所述的可调谐激光波长的检测方法,其特征在于,物理参数为温度参数、应变参数、压力参数、位移参数、液位参数、加速度参数、气体含量参数或弯曲参数。
4.根据权利要求1或2所述的可调谐激光波长的检测方法,其特征在于,等间隔增大驱动电流值为:以0.1mA的间隔从0mA增大至150mA。
5.一种可调谐激光波长的检测装置,其特征在于,包括可调谐半导体激光器、驱动电路板、光探测器、光纤环形器和光栅;所述光纤环形器的第一端口与可调谐半导体激光器的输出端相连,第二端口与所述光栅相连,第三端口与所述光探测器相连,所述驱动电路板可根据权利要求1-4任一项所述的可调谐激光波长的检测方法检测待测物理参数的变化量。
6.根据权利要求5所述的可调谐激光波长的检测装置,其特征在于,还包括复用器,所述光探测器的数量为多个,各所述光探测器串联,且各所述光探测器的输出端均与所述复用器连接。
7.根据权利要求5所述的可调谐激光波长的检测装置,其特征在于,还包括外壳,所述可调谐半导体激光器、所述驱动电路板和所述光纤环形器均位于所述外壳内。
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