[发明专利]适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的高效低损伤研磨方法有效

专利信息
申请号: 201611130455.0 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106711032B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 徐晓明;周海;黄传锦;徐彤彤;夏斯伟;龚凯 申请(专利权)人: 盐城工学院
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 杨海军
地址: 224051 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 解理 粗研磨 晶片 预处理 退火 研磨 低损伤 氧化镓 单晶 表面损伤层 表面完整性 材料去除 工艺设计 加工效率 晶片表面 精研磨 层间 划痕 贴片 光滑 剥离
【权利要求书】:

1.一种适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的研磨方法,其特征在于,包括以下步骤:

a、粗研磨前退火预处理:

将待加工的单晶氧化镓切割晶片装载到陶瓷工装架上,再把陶瓷工装架置于退火炉内的晶钵内,向晶钵内加入氧化镓晶体粉末,直至填满晶片与陶瓷工装架和晶钵之间的间隙,并用氧化镓晶体粉末覆盖需经退火处理的单晶氧化镓切割晶片,然后通入保护气体氮气,排出退火炉内空气,然后加热进行退火处理;

b、粗研磨:

将步骤a粗研磨前退火预处理后的单晶氧化镓晶片取出,置于铸铁盘双面研磨机的行星轮(1)的圆形预留腔内,行星轮(1)上的轮齿分别与中心轮(2)、外齿圈(3)相啮合,控制上研磨盘(4)的调节气缸,使上研磨盘(4)下移与待加工单晶氧化镓晶片(5)上表面均匀接触,上研磨盘(4)上开设有抗解理悬浮研磨液添加槽;然后向上研磨盘(4)、下研磨盘(6)和单晶氧化镓晶片(5)之间持续通入抗解理悬浮研磨液,增加研磨时的润滑和切削力;

然后启动铸铁盘双面研磨机,调节控制上研磨盘(4)和下研磨盘(6)反向转动,行星轮(1)在中心轮(2)和外齿圈(3)的共同作用下与下研磨盘(6)同向公转,形成研磨切削作用,对单晶氧化镓晶片(5)上、下表面同步对称研磨;

c、粗研磨后的退火预处理:

取步骤b粗研磨后的单晶氧化镓晶片(5),重复上述步骤a,对粗研磨后的单晶氧化镓晶片(5)再次进行退火预处理;

d、贴片:

将步骤c退火预处理的单晶氧化镓晶片置于半自动贴片机上的晶片放置槽内,对单晶氧化镓晶片进行加热;在单晶氧化镓晶片粘贴面添加液体蜡并甩蜡,甩蜡时转速为500~1000r/min,使液态蜡均匀分布于单晶氧化镓晶片的背面;然后将上蜡后的单晶氧化镓晶片移至真空吸盘上,通过带有真空吸盘的机械臂将单晶氧化镓晶片贴附于陶瓷盘(7)上;贴片结束后将陶瓷盘(7)移至冷却装置上进行冷却;

e、精研磨:

将所述贴片完成后的陶瓷盘(7)安装在单面研磨机的磨头(8)上,在研磨盘(9)上放置聚氨酯树脂基粘弹性固结磨料研磨垫(10),调节与磨头(8)相连的气缸结构(11),然后由电机带动研磨盘(9)转动,进行精研磨;所述的聚氨酯树脂基粘弹性固结磨料研磨垫(10)上开设有去离子水添加槽(12),精研磨过程中去离子水流量控制在8~15ml/min。

2.根据权利要求1所述的适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的研磨方法,其特征在于,步骤a所述粗研磨前退火预处理采用三段式退火方法,退火炉内的单晶氧化镓切割晶片先在200~300℃下进行3~5h的持续保温退火;然后在600~800℃下进行6~10h的持续保温退火;然后再在1000~1200℃下进行的10~16h持续保温退火,最后以每小时20~30℃降温至室温,出炉。

3.根据权利要求1所述的适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的研磨方法,其特征在于,步骤b行星轮(1)圆形预留腔内放置单晶氧化镓晶片晶片时,单晶氧化镓晶片表面沾水,单晶氧化镓晶片放在行星轮(1)圆形预留腔内后,再刷一遍抗解理悬浮研磨液或去离子水,保持水润。

4.根据权利要求1所述的适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的研磨方法,其特征在于,步骤b所述粗研磨,上研磨盘(4)施加的压力为200~300g/cm2,上研磨盘(4)的转速为13~20r/min,下研磨盘(6)的转速为28~40r/min,外齿圈(3)的转速为8~15r/min、中心轮(2)的转速为4~30r/min,抗解理悬浮研磨液的流量控制在20~30ml/min。

5.根据权利要求4所述的适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的研磨方法,其特征在于,所述的抗解理悬浮研磨液由下列重量百分比的原料制成:

氧化铝微粉:5~10%;分散触变剂:3~5%;表面活性剂:5~10%;煤油:45~50%;烷烃:25~30%;pH值调节剂:2~3%;消沫剂:0.02%;杀菌剂:0.02%;助清洗剂:0.05%。

6.权利要求1所述的适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的研磨方法,其特征在于,步骤b铸铁盘双面研磨机的行星轮(1)厚度比单晶氧化镓晶片厚度薄0.15~0.2mm。

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