[发明专利]一种电子器件的热阻测量方法和系统

权利要求书

1.一种电子器件的热阻测量方法，其特征在于，包括：

采集待测电子器件在阶跃功率下的冷却曲线f(k)；其中，k表示对数时间；

利用贝叶斯迭代差分算法计算冷却曲线f(k)的导数

采用贝叶斯迭代法对冷却曲线f(k)的导数进行反卷积处理，得到时间常数谱；

依据所述时间常数谱获取每一个Foster型网络单元的热阻和热容，并依据获取的热阻和热容构建Foster型网络模型；

将构建的所述Foster型网络模型转换为Cauer型网络模型。

2.根据权利要求1所述的电子器件的热阻测量方法，其特征在于，所述利用贝叶斯迭代差分算法计算所述冷却曲线的导数的步骤包括：

步骤S21，初始化迭代次数n为1，并按照预设的离散系数m的2倍初始化第一向量R和循环矩阵U；

步骤S22，在预设时间内按照离散系数m离散冷却曲线f(k)获取第一冷却序列，并将第一冷却序列进行序列拓展获得第二冷却序列F；其中，所述预设时间为对数时间；

步骤S23，对第一向量R进行迭代计算：其中，Rⁿ表示第一向量R经过n次迭代后的结果；表示所述向量R经过n次迭代后的结果的前j个数据组成的向量；F_i表示第二冷却序列F的前j个数据组成的向量；U_i,j表示由循环矩阵U的第i列的前j行所组成的矩阵；表示由循环矩阵U的第i列的前j行所组成的矩阵的转置矩阵；

步骤S24，判断||Rⁿ⁺¹|-|Rⁿ||是否小于第一预设阈值：

若是，则Rⁿ⁺¹为计算获得的冷却曲线f(k)的导数

若否，则判断n+1是否大于预设最大迭代次数：若是，则Rⁿ⁺¹为计算获得的冷却曲线f(k)的导数若否，则n＝n+1，并跳转至步骤S23，重新进行迭代计算。

3.根据权利要求2所述的电子器件的热阻测量方法，其特征在于，步骤S21中，第一向量R被初始化为[1,1，…，1]，且所述第一向量R为2m阶；循环矩阵U被初始化为一个由阶跃函数构造的2m×2m的循环方阵。

4.根据权利要求2所述的电子器件的热阻测量方法，其特征在于，所述步骤S22包括：

在预设时间内，按照离散系数m等分离散冷却曲线f(k)，获得第一冷却序列；

拓展第一冷却序列为第二冷却序列F：将第一冷却序列反折后加在原第一冷却序列之后，构成第二冷却序列F。

5.根据权利要求2所述的电子器件的热阻测量方法，其特征在于，所述采用贝叶斯迭代法对冷却曲线f(k)的导数进行反卷积处理，得到时间常数谱的步骤包括：

步骤S31，初始化加权矩阵W和迭代次数n；其中，加权矩阵为加权函数w(k)所转化的矩阵，且加权函数为：w_t(k)＝exp(k-exp(k))；迭代次数n＝1；

步骤S32，对第二向量S进行迭代计算：其中，第二向量S表示冷却曲线f(k)的导数Sⁿ表示第二向量S经过n次迭代后的结果；表示第二向量S经过n次迭代后的结果的前j个数据组成的向量；F_i表示第二冷却序列F的前j个数据组成的向量；W_i,j表示由加权矩阵W的第i列的前j行所组成的矩阵；表示由加权矩阵W的第i列前j行所组成的矩阵的转置矩阵；

步骤S33，判断||Sⁿ⁺¹|-|Sⁿ||是否小于第二预设阈值：

若是，则Sⁿ⁺¹为计算获得的时间常数谱；

若否，则判断n+1是否大于预设最大迭代次数：若是，则Sⁿ⁺¹为计算获得的时间常数谱；若否，则n＝n+1，并跳转至步骤S33，重新进行迭代计算。