[发明专利]芯片类型识别系统、方法及装置在审
申请号: | 201611119566.1 | 申请日: | 2016-12-07 |
公开(公告)号: | CN106814257A | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 张洪欣;朱瑞;甘罕;王振友;米芳 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R13/02;G06F21/44;G06K9/62 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 汤财宝 |
地址: | 100876*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 类型 识别 系统 方法 装置 | ||
1.一种芯片类型识别系统,其特征在于,所述系统包括:装载板、终端、电磁探头及数字存储示波器;
所述装载板与所述终端相连接,所述终端与所述数字存储示波器相连接,所述数字存储示波器与所述电磁探头相连接;
其中,所述装载板装载有待识别的芯片;所述电磁探头用于采集所述装载板泄露的电磁信号,所述数字存储示波器用于记录所述电磁探头采集的电磁信号;所述终端用于根据对电磁信号进行分析后的结果,识别芯片类型。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述装载板包括核心板及底板;所述核心板用于装载待识别的芯片,所述底板用于装载所述核心板。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述装载板还包括Flash芯片与转接板;所述底板用于装载所述转接板,所述转接板用于装载不同容量的Flash芯片。
4.一种芯片类型识别方法,其特征在于,所述方法包括:
对芯片工作时泄露的电磁信号进行检测;
当检测到采集到的电磁信号大于第一预设阈值时,以当前时刻为起始点,对后续的电磁信号进行记录,直到检测到电磁信号小于第二预设阈值为止,得到对应的目标电磁信号记录;
基于预先训练的支持向量机,根据目标电磁信号记录确定所述芯片的芯片类型。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于预先训练的支持向量机,根据所述目标电磁信号记录确定所述芯片的芯片类型之前,还包括:
根据各种类型芯片在工作时所采集到的电磁信号对支持向量机进行训练,得到训练后的支持向量机。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据各种类型芯片在工作时所采集到的电磁信号对支持向量机进行训练,得到训练后的支持向量机之前,还包括:
采集每种类型芯片在工作时泄露的电磁信号记录;
对每种类型芯片所采集到的电磁信号记录进行预处理;
所述根据各种类型芯片在工作时所采集到的电磁信号对支持向量机进行训练,得到训练后的支持向量机,包括:
根据各种类型芯片对应预处理后的参数,对支持向量机进行训练,得到训练后的支持向量机。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对每种类型芯片所采集到的电磁信号记录进行预处理,包括:
对于任一类型芯片所采集到的电磁信号记录,当电磁信号记录的数量为多个时,以任一电磁信号记录为基准,对剩下的每一电磁信号记录进行移位;
根据剩下的每一电磁信号记录移位后与所述任一电磁信号记录之间的相关度,将剩下的每一电磁信号记录与所述任一电磁信号记录进行对齐;
基于数据成份分析算法,根据对齐后的每一电磁信号记录提取对应的特征参数。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述基于数据成份分析算法,根据对齐后的每一电磁信号记录提取对应的特征参数之前,还包括:
将对齐后的每一电磁信号记录进行频域分析,得到对齐后的每一电磁信号记录所对应的频谱值记录;
所述基于数据成份分析算法,根据对齐后的每一电磁信号记录提取对应的特征参数,包括:
基于数据成份分析算法,根据每一频谱值记录提取对应的特征参数。
9.根据权利要求4至8中任一权利要求所述的方法,其特征在于,所述基于预先训练的支持向量机,根据目标电磁信号记录确定所述芯片的芯片类型之前,还包括:
对目标电磁信号记录进行预处理;
所述基于预先训练的支持向量机,根据目标电磁信号记录确定所述芯片的芯片类型,包括:
将目标电磁信号记录进行预处理后所得到的参数输入至预先训练的支持向量机,得到相应的芯片类型。
10.一种芯片类型识别装置,其特征在于,所述装置包括:
检测模块,用于对芯片工作时泄露的电磁信号进行检测;
记录模块,用于当检测到采集到的电磁信号大于第一预设阈值时,以当前时刻为起始点,对后续的电磁信号进行记录,直到检测到电磁信号小于第二预设阈值为止,得到对应的目标电磁信号记录;
确定模块,用于基于预先训练的支持向量机,根据目标电磁信号记录确定所述芯片的芯片类型。
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