[发明专利]一种固体绝缘开关柜开关触点温度计算方法及装置

说明书

本发明公开了一种固体绝缘开关柜开关触点温度计算方法及装置，通过预先获取多组样本数据，通过偏最小二乘法建立各影响因素间的数学模型，确定测量点的温度与固体绝缘开关柜的开关触点的温度之间的函数关系，样本数据包含多组影响开关触点温度变化的影响因素数据，测量点位于开关触点周围预设范围内；获取测量点监测到的当前温度值；根据当前温度值，通过函数关系计算出固体绝缘开关柜的开关触点的温度值。本申请基于偏最小二乘的数学建模方法动态计算断路器触点温度，无需考虑外裹绝缘层及触头材料的物性参数，方便了触头温度的计算。该方法通用性强、实现简单、成本低，可以为准确实时掌握开关柜的运行状态提供参考。

技术领域

本发明涉及电力系统技术领域，特别是涉及一种固体绝缘开关柜开关触点温度计算方法及装置。

背景技术

开关柜是电力系统中的一个重要设备，它主要担负着其他电气设备与电网关合电流的责任。然而在开关柜长期运行过程中，由于触头老化、接触不良导致接触电阻增大，接触电阻的增加引起开关柜局部温度升高，触头发热会加快绝缘层的老化，触头过热引发的火灾和停电事故并不少见。所以对开关柜开关触头温度的在线监测就显得更为重要了。当前对开关柜触头温度的研究普遍集中在温度监测设备的开发与改进上，目前主要有三种操作技术对触头温度进行实时监测。一种方法是通过摄像头与示温蜡片设备实现，开关柜内部需要监测的触头较多，而摄像头与示温蜡片之前的监测视野不能被阻挡，在一些结构复杂、空间位置狭小的区域很难实现示温蜡片与摄像头的一对一安装。另外一种是采用红外测温技术实现，它通过接收被测点的红外辐射来获取温度数据，但在安放测温探头的时候需要注意的是要避免光路的交叉影响，一个红外传感器对应一个触头。还有一种通过光纤温度传感器测温技术来实现，是目前运用最多的一种测温技术，其测量范围广、测量精度较高，但是成本高，而且受开关柜结构影响较大，导致监测温度不可靠。

发明内容

本发明的目的是提供一种固体绝缘开关柜开关触点温度计算方法及装置，以解决现有开关柜开关触点温度实时监测技术中不易实现、成本高、监测温度不可靠的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种固体绝缘开关柜开关触点温度计算方法，包括：

预先获取多组样本数据，通过偏最小二乘法建立各影响因素间的数学模型，确定测量点的温度与固体绝缘开关柜的开关触点的温度之间的函数关系，所述样本数据包含多组影响所述开关触点温度变化的影响因素数据，所述测量点位于所述开关触点周围预设范围内；

获取所述测量点监测到的当前温度值；

根据所述当前温度值，通过所述函数关系计算出所述固体绝缘开关柜的开关触点的温度值。

可选地，所述通过偏最小二乘法建立各影响因素间的数学模型，确定测量点的温度与固体绝缘开关柜的开关触点的温度之间的函数关系包括：

将所述测量点的温度作为因变量y，各影响因素分别作为自变量x₁、x₂、x₃、x₄、x₅、x₆、x₇，获取n组样本数据，形成因变量矩阵Y＝[y]_n×1以及自变量矩阵X＝[x₁x₂x₃x₄x₅x₆x₇]_n×7，对Y与X进行标准化处理，得到标准化的因变量矩阵和自变量矩阵

其中，x_ij为矩阵X中第i个样本第j个变量的值，y_i表示矩阵Y中第i个样本值；

从E₀中依次提取主成分，并实施因变量对自变量的回归分析，转换为Y对X的回归方程，并确定

中的回归系数β₁～β₇。