[发明专利]输入装置以及电子设备

说明书

本发明涉及一种输入装置，该输入装置具备：向某一方向位移的键；第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。

本申请基于2015年12月18日申请的特愿2015－247182号、2016年9月30日申请的特愿2016－192554号、2016年10月28日申请的特愿2016－211534号各日本专利申请来主张优先权，将这些申请的全部内容引入到本发明中。

技术领域

本发明涉及输入装置以及电子设备。

背景技术

以往公知有例如日本特开2010－74689号公报那样具备输入装置的电子设备，其中，所述输入装置具有：检测正被触碰的键的第1检测单元、和对被进行了使状态变位的操作的键加以检测的第2检测单元。

在以往的电子设备的输入装置中，在键的触摸操作时当然进行通过第1检测单元对触摸操作的检测，即便是键的按下操作时(参照专利文献1的图3(C))，也进行了通过第1检测单元对触摸操作的检测。即，需要在键向其按下方向位移的期间，也能够检测因对键的触摸操作而产生的静电电容的变化的构成。由此，设计能够检测对各键的触摸操作和按下操作双方的输入装置时的自由度受到限制。

发明内容

本发明鉴于上述课题而提出，其目的在于，提供一种输入装置，该输入装置具备：向某一方向位移的键；第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。

另外，本发明还提供一种电子设备，具备输入装置和控制部，上述输入装置具备：向某一方向位移的键；第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态，上述控制部根据上述第1检测电路以及上述第2检测电路的检测结果来执行至少一个功能。

附图说明

其中，附图中的各部件不一定相互成比例。

图1是表示本发明的实施方式涉及的作为输入装置的电子计算器10的俯视图。

图2是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的输入部11的数值键110的图，(A)是数值键110的俯视图，(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图，(C)是表示数值键110的键结构的触击操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图。

图3是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的触摸检测片120上的导电图案的透视俯视图。

图4是本发明的实施方式涉及的电子计算器10的框图。

图5是表示使用了本发明的实施方式涉及的电子计算器10的输入操作检测处理的流程图。

图6是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的存储部400中存储的触摸输入图案的数据结构。

图7是表示使用了本发明的实施方式涉及的电子计算器10的用户操作的一个例子的图。