[发明专利]一种射频集成电路测试设备

说明书

本发明涉及测试设备,具体涉及射频集成电路测试设备。一种射频集成电路测试设备，包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台，所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；接口模块用于和接口系统连接；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；测试仪器通过器件安装台读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。本发明所述的射频集成电路测试设备的有益效果是：本发明兼容多种接口、多种协议，可实现多功能、多项目的复用，由于设置有传输线校准模块，保证了测试精度。

技术领域

本发明涉及测试设备, 具体涉及射频集成电路测试设备。

背景技术

随着集成电路的发展，越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能模块对模拟部分进行控制，因此对于集成电路的测试分析，首先需要验证数字功能模块部分，以达到通过数字功能模块控制模拟部分的正常工作。由于不同的电路内部集成的数字功能模块并不一样，其中包括I2C 通信协议、SPI 串行通信协议、逻辑电平控制等。而对

于射频集成电路，根据接收通道、发射通道与频综等不同的单元，其参数指标差异性较大。

因此对于不同的电路，需要对测试系统的硬件部分单独制作，耗费时间多。

目前，现有技术中的测试系统控制组合主要由开关、保护装置、连接器及相应的附属机械结构构成。在设计上，这些组合普遍采用专用化设计架构，每种测试系统型号的研制

往往都需要对其加电控制组合进行定制，导致作为自动测试系统配套设备的加电控制组合

耗费大量不必要的人力和物力，完全不能适应测试领域系统研制周期短的生产要求。

发明内容

本发明的目的是提供射频集成电路测试设备，为了实现本发明的目的，采用的技术方案是：

一种射频集成电路测试设备，包括上位机、交换机、PXI机箱和接口系统、测试仪器及器件安装台，所述上位机中设置有中央处理器模块、接口模块、电路功能设置模块和参数测试模块；接口模块用于和接口系统连接；电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；参数测试模块用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供自动化测试的函数调用；对测试仪器进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；所述上位机、交换机、PXI机箱通过接口系统连接；待测射频集成电路安装在器件安装台上，待测射频集成电路通过器件安装台和接口系统与上位机进行通讯，并且，待测射频集成电路通过器件安装台输出信号到测试仪器或者接收测试仪器输出的信号；测试仪器接收上位机的参数测试模块输出的信号，通过器件安装台读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。通过网络接口系统，将测试器件安装台和上位机连接在一起，器件安装台可以实现对待测试的主板的数据进行读取，然后把数据传输给上位机。

进一步地，电路功能设置模块还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；并把数据传输到中央处理器模块与器件安装台对应的总线接口读取，进行处理后通过接口系统发送至上位机。

进一步地，所述接口模块包括串口模块和并口模块，所述并口模块通过转换电路和器件安装台对待测射频集成电路进行读写控制；所述转换电路将上位机的并口模块输出的电平信号进行转换后通过器件安装台输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过器件安装台输出的数据进行转换后输出到上位机。

进一步地，所述上位机中还设置有传输线校准模块；传输线校准模块用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试模块。

进一步地，所述器件安装台包括有供电连接器，所述供电连接器包括供电输入连接器、供电输出连接器和供电控制连接器。