[发明专利]保持非挥发性存储器存储单元电流检测窗口的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及存储器领域，特别是涉及一种在对非挥发性存储器的编程擦除操作之后对存储单元电流检测窗口的持久保持的长期保持非挥发性存储器存储单元电流检测窗口的方法及系统。

背景技术

非挥发性存储单元在其编程状态期间可具有比在其擦除状态期间更高的电流。这些状态期间的单元电流的差异可对应于最大检测窗口，在该最大检测窗口内，可通过用作包括非挥发性存储单元的存储器电路的一部分的检测放大器将编程状态与擦除状态区分开，非挥发性存储单元的电流可以是与存储器电路相关联的因素的函数，例如数据保持时间、耐久性、信号噪声和检测放大器偏移。这可以导致实际检测窗口小于最大检测窗口的宽度。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种保持非挥发性存储器存储单元电流检测窗口的方法及系统。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种保持非挥发性存储器存储单元电流检测窗口的方法，包括以下步骤：

在状态机中实现编程循环计数器；

预设非挥发性存储器存储单元的电流阈值、所实现的编程循环计数器的时间步长和最大值；

复位所实现的编程循环计数器；

在所述非挥发性存储器的预设的一组存储器位置的每个存储器位置编程，其包括以下步骤：

基于其寻址从每个存储器位置读取数据；

确定来自所寻址的每个存储器位置的读取数据与要被编程到其的数据不匹配；

在确定所述读取数据与要编程的数据之间的失配之后，产生编程脉冲以在所述预设时间步长寻址的每个存储器位置处将所述非挥发性存储器编程；以及

在产生与所寻址的每个存储器位置的编程相关的编程脉冲之后递增编程循环计数器；

确定递增后的编程循环计数器达到其预设的最大值；

基于所述编程循环计数器已经达到其预设最大值的确定结束对所述非挥发性存储器的编程操作；以及

在所述编程操作终止之后，基于所述编程循环计数器结合每个被寻址的存储器位置和编程循环计数器的预设最大值实现所述编程的预设时间步长，在高于所述预设阈值的水平处保持所述非挥发性存储器的每个编程的存储单元的电流。

所述方法还包括以下步骤：

预设所述非挥发性存储器存储单元的电流的另一阈值；以及

在对所述非挥发性存储器存储单元执行擦除操作之后，将所述每个存储单元的电流保持在低于预设的另一阈值的水平。

所述方法还包括以下步骤：

基于在高于所述预设阈值的水平的存储单元编程状态中的电流的维持以及在所述存储器的擦除状态下的电流的维持，所述非挥发性存储器的检测放大模块的电流检测窗口的宽度处于所述非挥发性存储器的期望水平。

所述方法还包括使用定序器和一组控制寄存器来实现所述状态机。

所述方法还包括用脉冲发生器电路和逻辑门和触发器中的至少一个来实现所述定序器。

所述方法还包括以下步骤：

将所述编程循环计数器实施为所述控制寄存器中的位计数器；以及

实现编程循环计数器的最大值作为所述控制寄存器中的寄存器。

所述方法还包括通过所述非挥发性存储器的处理器和存储控制器中的至少一个来实现所述状态机。

一种保持非挥发性存储器存储单元电流检测窗口的方法，包括以下步骤：

在状态机中实施擦除循环计数器；

预设非挥发性存储器存储单元的电流的阈值、所实施的擦除循环计数器的时间步长和最大值；

复位所实施的擦除循环计数器；

在预设的一组存储器位置的每个存储器位置对所述非挥发性存储器执行擦除操作，所述预设的每个存储器位置处的擦除操作包括：

基于每个存储器位置的寻址从所述每个存储器位置读取数据位；

确定来自所寻址的每个存储器位置的读取数据位与仅包括极性等于0和1之一的位的数据字不匹配；

在确定所述读取数据位与所述数据字之间的不匹配的情况下产生擦除脉冲以擦除在寻址所述预设时间步长的每一存储器位置处的所述非挥发性存储器的所述读取数据位，所述数据字仅包含极性等于0和1之一；以及

在产生与所寻址的每个存储器位置的读取数据位擦除相关的擦除脉冲之后递增所述擦除循环计数器；

确定递增的擦除循环计数器达到其预设的最大值；