[发明专利]传感器及使用该传感器的开关在审
申请号: | 201611108400.X | 申请日: | 2016-12-06 |
公开(公告)号: | CN107014524A | 公开(公告)日: | 2017-08-04 |
发明(设计)人: | 是泽康平;坂元豪介 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01L1/14 | 分类号: | G01L1/14;G06F3/044 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 安香子,黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 使用 开关 | ||
技术领域
本申请涉及传感器及具备该传感器的开关。
背景技术
以往,在用于用户进行设备的开启关闭等的操作的操作开关中使用传感器。作为这种传感器,已知有利用静电电容的静电电容式的传感器。例如,在特开2009-111996号公报中,公开了一种静电电容式的接触传感器(触摸传感器)。
特开2009-111996号公报所公开的接触传感器具有作为第一接触传感器部的操作开关、与操作开关接近配置的作为第二接触传感器部的虚拟开关、和基于虚拟开关的输出来检测是否对操作开关进行了有效的接触的传感器检测部。在该接触传感器中,在虚拟开关检测到用户的接触时,即使操作开关检测到用户的接触也使操作开关的输出无效,从而仅使有意的接触成为有效。由此,能够防止在用户非有意的操作下接触传感器反应。
发明内容
本申请的传感器的一技术方案是用于以非接触的方式对检测对象进行检测的传感器,具备:第一电极;第二电极,配置在上述第一电极的外侧的至少一部分;第三电极,配置在上述第一电极与上述第二电极之间;以及判定电路,通过检测上述第一电极的静电电容即第一静电电容的变化,检测上述检测对象进入到第一区域内这一情况,并且通过检测上述第二电极的静电电容即第二静电电容的变化,检测上述检测对象进入到第二区域中这一情况。上述第三电极的电位是上述第一电极的电位及上述第二电极的电位的负侧电位。在俯视下,上述第二区域将上述第一区域的外周的至少一部分包围。
本申请的另一技术方案的开关,用于对设备进行操作,具备:传感器,用于以非接触的方式对检测对象进行检测;以及控制部,基于来自上述传感器的检测信号,生成用于操作上述设备的操作信号;上述传感器具备:第一电极;第二电极,配置在上述第一电极的外侧的至少一部分;第三电极,配置在上述第一电极与上述第二电极之间;以及判定电路,通过检测上述第一电极的静电电容即第一静电电容的变化,检测上述检测对象进入到第一区域内这一情况,并且通过检测上述第二电极的静电电容即第二静电电容的变化,检测上述检测对象进入到第二区域中这一情况,并且基于上述第一静电电容及上述第二静电电容,生成上述检测信号;上述第三电极的电位是上述第一电极的电位及上述第二电极的电位的负侧电位;在俯视下,上述第二区域将上述第一区域的外周的至少一部分包围。
附图说明
图1A是有关实施方式1的非接触传感器的俯视图。
图1B是图1A的IB-IB线的有关实施方式1的非接触传感器的剖视图。
图2A是示意地表示有关实施方式1的非接触传感器的第一检测区域及第二检测区域的俯视下的分布的图。
图2B是示意地表示有关实施方式1的非接触传感器的第一检测区域及第二检测区域的图2A的IIB-IIB的剖视下的分布的图。
图2C是示意地表示有关实施方式1的非接触传感器的第一检测区域及第二检测区域的图2A的IIC-IIC的剖视下的分布的图。
图3A是表示有关实施方式1的非接触传感器的第一检测区域的分布的图。
图3B是表示没有配置第三电极的非接触传感器的第二检测区域的分布的图。
图3C是表示有关实施方式1的非接触传感器的第二检测区域的分布的图。
图4是表示使用有关实施方式1的非接触传感器的非接触操作开关的一例的图。
图5是比较例的非接触传感器的俯视图。
图6是表示使用比较例的非接触传感器的非接触操作开关的使用例的图。
图7是表示使用比较例的非接触传感器的非接触操作开关的使用例的图。
图8是表示使用比较例的非接触传感器的非接触操作开关的使用例的图。
图9是表示使用有关实施方式1的非接触传感器的非接触操作开关的使用例的图。
图10是表示使用有关实施方式1的非接触传感器的非接触操作开关的使用例的图。
图11是有关实施方式2的非接触传感器的俯视图。
图12A是示意地表示有关实施方式2的非接触传感器的第一检测区域及第二检测区域的俯视下的分布的图。
图12B是示意地表示有关实施方式2的非接触传感器的第一检测区域及第二检测区域的图12A的XIIB-XIIB的剖视下的分布的图。
图12C是示意地表示有关实施方式2的非接触传感器的第一检测区域及第二检测区域的图12A的XIIC-XIIC的剖视下的分布的图。
图13是表示有关实施方式1的非接触传感器的使用例的图。
图14是表示有关实施方式2的非接触传感器的使用例的图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下知识产权经营株式会社,未经松下知识产权经营株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611108400.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:低压熔断器
- 下一篇:伸缩通用跌落式熔丝管