[发明专利]一种待测设备的快速测试方法及系统

说明书

本发明提供一种待测设备的快速测试方法及系统，所述快速测试方法包括以下步骤：步骤S1，统计并确定当前待测设备的历史功率参数统计值；步骤S2，以步骤S1得到的所述历史功率参数统计值作为当前待测设备的初始功率参数进行测试，直到测试得到的实际功率与目标功率之间的差值小于阈值，则记录该实际功率对应的实际功率参数作为当前待测设备的目标功率参数；其中，所述历史功率参数统计值为在所述当前待测设备之前的所有待测设备的目标功率参数的统计值。本发明无需人工小批量进行测试，只有第一待测设备的测试时间较长，后面的待测设备测试时采用了更为合理的初始功率参数，能够有效降低待测设备的校准时间，提高了生产效率，降低了生产成本。

技术领域

本发明涉及一种待测设备的测试方法，尤其涉及一种待测设备的快速测试方法，并涉及采用了该待测设备的快速测试方法的快速测试系统。

背景技术

工业生产对Wi-Fi(Wireless Fidelity)类的待测设备(DUT，Device Under Test，例如家用无线路由器等)进行大批量生产测试时，需要进行功率校准、频偏校准和指标测试等过程。待测设备的目标功率与可调功率参数之间是一个近似线性的关系。假设目标功率记为Pt，功率校准是从初始功率参数I₀开始，经过待测设备发射，在经过仪器接受并测量、调整功率参数再测试，直到找到符合要求的目标功率参数It，最后将目标功率参数It写入待测设备的存储空间中。

现有技术中，从初始参数I₀到目标功率参数I_t所要经历的调整次数记为T，单次调整所消耗的时间比较固定，因此校准时间与T_n成正比，n为0～T的自然数。而校准时间又占整个待测设备的单片测试时间的30～50％左右，而单片测试时间与生产成本也是正相关。因此，如果能有效降低T_n就是能够降低待测设备的生产成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是需要提供一种能够有效降低待测设备的校准时间的待测设备的快速测试方法，进而提高待测设备的生产效率，降低其生产成本；并提供采用了该待测设备的快速测试方法的快速测试系统。

对此，本发明提供一种待测设备的快速测试方法，包括以下步骤：

步骤S1，统计并确定当前待测设备的历史功率参数统计值；

步骤S2，以步骤S1得到的所述历史功率参数统计值作为当前待测设备的初始功率参数进行测试，直到测试得到的实际功率与目标功率之间的差值小于阈值，则记录该实际功率对应的实际功率参数作为当前待测设备的目标功率参数；

其中，所述历史功率参数统计值为在所述当前待测设备之前的所有待测设备的目标功率参数的统计值。

本发明的进一步改进在于，所述目标功率参数的统计值为在所述当前待测设备之前的所有待测设备中出现频率最高的目标功率参数。

本发明的进一步改进在于，所述目标功率参数的统计值为在所述当前待测设备之前的所有待测设备的目标功率参数的平均值。

本发明的进一步改进在于，所述步骤S1包括以下子步骤：

步骤S101，随机产生一个初始功率参数作为第一待测设备的初始功率参数，对第一待测设备进行测试，得到第一待测设备的目标功率参数；

步骤S102，以第一待测设备的目标功率参数作为第二待测设备的初始功率参数，对第二待测设备进行测试，得到第二待测设备的目标功率参数；

以及，步骤S103，通过对第一待测设备至第N-1待测设备的目标功率参数进行统计，得到第N待测设备的历史功率参数统计值，N为大于2的自然数；

所述步骤S2以所述步骤S103中得到的历史功率参数统计值作为第N待测设备的初始功率参数进行测试。