[发明专利]准直测量仪器一体化校零及对准装置在审
| 申请号： | 201611090022.7 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108132027A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 赵天承;刘凯;王锴磊;王占涛;汪涛;姜云翔;高秋娟;王强 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 任超 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 直线导轨 反光 液面 双层钢架 位置传感器 测量仪器 对准装置 自准直仪 激光器 折光镜 校零 准直 电机 一体化 控制盒 左端 下层 上层 | ||
【权利要求书】：
1.一种准直测量仪器一体化校零及对准装置，其特征在于：包括自准直仪(1)、折光镜(2)、反光液面(3)、位置传感器(4)、控制盒(5)、激光器(6)、直线导轨(8)、电机(9)、双层钢架(10)；其中自准直仪(1)与折光镜(2)位于双层钢架(10)的上层，在双层钢架(10)的下层安装有直线导轨(8)，在直线导轨(8)的左端为电机(9)，直线导轨(8)的右端为反光液面(3)，反光液面(3)的下方为激光器(6)，在反光液面(3)上还安装有位置传感器(4)。
2.根据权利要求1所述的一种准直测量仪器一体化校零及对准装置，其特征在于：还包括控制盒(5)，控制盒(5)控制电机(9)。
3.根据权利要求1所述的一种准直测量仪器一体化校零及对准装置，其特征在于：还包括被测基准镜(7)，装置使用时，将反光液面(3)移动到位置传感器(4)的触发点，整体移动本装置，使激光器(6)光束打在被测基准镜(7)上。
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