[发明专利]用于整星条件下基于二维正交干涉仪的无源测向测试方法有效

专利信息
申请号: 201611084676.9 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106769132B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 宋玉亭;赖京;郁海勇;沈庆丰;叶小舟;李金亮;游月辉;王瀚霆;范迎春;徐侃;杨帅 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00;B64G1/10;H04B17/40
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测向 电子侦察 二维 正交 测试 电测试 频段 加电 无源 干涉 评估 厂房 背景环境 背景信号 复杂环境 工作模式 功能评估 频率设置 扫描模式 全频段 频点 定性 卫星
【说明书】:

发明公开了一种用于整星条件下基于二维正交干涉仪的无源测向测试方法,其包括以下步骤:步骤一:卫星加电后,电子侦察载荷按时序加电,设置其工作模式为全频段扫描模式,获取各频段的背景信号;步骤二:根据步骤一获取的背景环境信息,选取各频段较干净的频点各一个,作为本次测试的频率设置值。本发明可在普通的整星电测试厂房,对基于二维正交干涉仪的电子侦察载荷测向能力开展测试,并对其进行功能性的评估,满足整星状态下定性评估电子侦察载荷测向能力的评估需求,可适应普通的整星电测试厂房复杂环境的要求,方案合理、简单、对功能评估有效。

技术领域

本发明涉及一种基于二维正交干涉仪的无源测向测试方法,特别是涉及一种用于整星条件下基于二维正交干涉仪的无源测向测试方法。

背景技术

对辐射源的无源测向定位,具有隐蔽性好、不受气候影响、功耗低、较易实现,并能对辐射源信号进行特征分析等优点。而二维正交干涉仪测向定位技术,作为无源测向定位的常用手段之一,在军事和民用领域都有着重要应用。

测向能力作为二维正交干涉仪的核心能力,在各阶段需对该项指标进行较为全面的测试。根据干涉仪测向原理,干涉仪天线阵接收到的辐射信号波束应为平行波,即测试需满足远场条件的要求。但在实际工程应用中,无限远难以实现,常用的测试方法包括外场测试和暗室测试。

外场测试要求测试场地较大,通常地面辐射源距无源测向接收天线需百米以上,同时外场测试受室外天气的影响,对工作开展和产品安全带来一定的风险;外界环境存在的电磁信号干扰也会对产品测向能力的测试造成一定的影响。暗室测试在室内,不受天气影响,同时暗室可以较好的屏蔽电磁信号的干扰,但由于测试距离仍需保持在五十米左右,且暗室吸波材料需具备对相应频段电磁信号的屏蔽能力,因此对微波暗室有较高的要求;同时测试引入的近场效应误差,需在后期数据处理中进行消除。

在整星条件下,测试厂房通常不具备电磁信号屏蔽能力,测试工位较小,约二十米,因此不符合暗室测试的条件。同时因整星规模较大、供电要求较高,开展外场测试既移动不便,又无法满足供电需求,天气变化也对整星产品质量存在着潜在的威胁。所以目前并没有整星状态下验证无源测向能力的方法。

但对于二维正交干涉仪载荷,在整星条件下需进行各通道的相位校正及校正表的上注,该工作直接影响其测向能力,因此在整星条件下提出了对无源测向能力的评估需求,相应的测试方法的研究成为一个重要内容。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种用于整星条件下基于二维正交干涉仪的无源测向测试方法,其可在普通的整星电测试厂房,对基于二维正交干涉仪的电子侦察载荷测向能力开展测试,并对其进行功能性的评估,满足整星状态下定性评估电子侦察载荷测向能力的评估需求,可适应普通的整星电测试厂房复杂环境的要求,方案合理、简单、对功能评估有效。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:一种用于整星条件下基于二维正交干涉仪的无源测向测试方法,其包括以下步骤:

步骤一:卫星加电后,电子侦察载荷按时序加电,设置其工作模式为全频段扫描模式,获取各频段的背景信号;

步骤二:根据步骤一获取的背景环境信息,选取各频段较干净的频点各一个,作为本次测试的频率设置值;

步骤三:将地面辐射天线置于下方位置处,设定地面模拟源为扫频模式,覆盖步骤二中选择的各个频点,具体信号样式设置为常用的信号类型;

步骤四:卫星加电,上注电子侦察载荷程控作业指令,电子侦察载荷按指令设定时序开机并工作一段时间;

步骤五:调节地面辐射天线至上方位置处,电子侦察载荷工作一段时间后,调节地面辐射天线至下方位置处,电子侦察载荷再工作一段时间后,按指令设置断电,测试结束后下传侦收数据,卫星断电;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海卫星工程研究所,未经上海卫星工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611084676.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top