[发明专利]一种PST杂散光测试数据处理方法

权利要求书

1.一种PST杂散光测试数据处理方法，其特征在于步骤如下：

(1)根据遥感相机的点源透过率PST，以及CCD探测器电学性能，包括光子效率，确定环境杂散光能量E_Env，根据环境杂散光能量E_Env，确定照射在遥感相机入口的光源能量；

(2)在光源输出不同能量状态下，对遥感相机CCD图像进行采集，再对CCD图像进行差分计算，以分离、提取各类测试噪声在CCD探测器上的分布，从而完成测试噪声的剥离，得到剥离了噪声的CCD图像；

(3)对步骤(2)中剥离了噪声的CCD图像进行数理分析，解析出表示剥离了噪声的CCD图像的矩阵是否存在逆矩阵；

(4)若存在逆矩阵，则直接对剥离了噪声的CCD图像的矩阵进行求解，若不存在逆矩阵，则选用最小二乘法或遗传算法或二分法对剥离了噪声的CCD图像的矩阵进行求解，得到遥感相机CCD各列杂散能量传递系数，即CCD每行中各个像元对于该行总的杂散光的贡献能力，以用于后期的图像校正。

2.根据权利要求1所述的一种PST杂散光测试数据处理方法，其特征在于：所述的步骤(1)根据遥感相机的点源透过率PST，以及CCD探测器电学性能，包括光子效率，确定环境杂散光能量E_Env的方法为：分别计算出遥感相机所能接受的杂散光能量下限E_PST和CCD最小电噪声能量E_CCD，则环境杂散光能量E_Env，要求E_Env<(E_PST+E_CCD)。

3.根据权利要求1所述的一种PST杂散光测试数据处理方法，其特征在于：所述的步骤(2)中，点源透过率为PST，CCD的像元规模为rows行和cols列，在第i个能量状态下，光源输入杂散光能量为E_0i(i＝1,2,…,n+1)，CCD探测器的第l行、第k列像元接收到的杂散能量为E'(i)_(l,k)(l＝1,2,…rows；k＝1,2,…cols)；

那么，第j+1和第j相邻两次的输入能量差值ΔE_0j＝E_0(j+1)-E_0j(j＝1,2,…,n)；而两次第l行、第k列像元接收到的杂散能量差值为ΔE'(j)_(l,k)＝E'(j+1)_(l,k)-E'(j)_(l,k)，则两次该像元的差分为Diff(E_j)_(l,k)＝ΔE_0iPST-ΔE'(j)_(l.k)，对该项像元的差分取平均值其中δ_i为差分的权重，同理可求得其他像元的差分平均值，而各个像元的差分平均值构成了rows×cols阶矩阵，并对应于CCD的rows×cols阶像元，即为测试噪声；CCD探测器在第1个能量状态下每个像元接收的总能量减去该像元的差分平均值即实现测了测试噪声的剥离。

4.根据权利要求3所述的一种PST杂散光测试数据处理方法，其特征在于：CCD的rows×cols阶矩阵的求解难易程度用以衡量数据的病态性。

5.根据权利要求1所述的一种PST杂散光测试数据处理方法，其特征在于：所述的步骤(4)根据解析出表示剥离了噪声的CCD图像的矩阵是否存在逆矩阵，可选择最小二乘法或广义逆最小二乘法、遗传算法、二分法进行相应的计算。