[发明专利]一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置

说明书

一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置属于高压电缆无损检测领域，尤其涉及一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置。本发明提供一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置。本发明包括发射探针、接收探针、蓄电池、DC/15电源模块JP1、DC/15电源模块JP2、DC/15电源模块JP3、DC/15电源模块JP4、DC/15电源模块JP5、DC/15电源模块JP7、VSM025A升压模块U2和Atmage8单片机U7。

技术领域

本发明属于高压电缆无损检测领域，尤其涉及一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置。

背景技术

随着国民经济的飞速发展，各种电线电缆得到了广泛的应用，电线电缆行业得到迅速发展，生产规模逐渐壮大，市场占有率逐年提升。电缆作为重要的无损检测类商品，国家标准对精度要求很高。然而，目前电线电缆市场上存在的计量问题日臻突出，如何准确、迅速、经济的实现对电缆无损检测的测量，具有重要的理论意义和研究价值。

几乎所有架在高空的高压电缆表面都是裸露的，由于电压很高，危险系数极高。对于已经发生断路故障的高压电缆，其检测方法已经是多种多样了，可以快速精确的发现其故障位置，进行修复。然而对于高压运行的电缆，其维护很小，由于很难判断出未知的故障点，一旦突然损坏或者断路对工业生产以及生活等带来了很大的影响与损害。如果电缆发生局部放电，极大程度增加了电缆的危险系数。因此如何利用反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测，预防电缆故障的发生是我们所研究的难点。

发明内容

本发明就是针对上述问题，提供一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案，本发明包括发射探针、接收探针、蓄电池、DC/15电源模块JP1、DC/15电源模块JP2、DC/15电源模块JP3、DC/15电源模块JP4、DC/15电源模块JP5、DC/15电源模块JP7、VSM025A升压模块U2和Atmage8单片机U7；其结构要点所述蓄电池的正极BAT+端分别与JP1的正极输入端、JP2的正极输入端、JP3的正极输入端、JP4的正极输入端、JP5的正极输入端、JP7的正极输入端相连；蓄电池的负极BAT-端分别与JP1的负极输入端、JP2的负极输入端、JP3的负极输入端、JP4的负极输入端、JP5的负极输入端、JP7的负极输入端相连。

蓄电池的负极BAT-端通过电容C1分别与JP1的CAP端、JP2的CAP端、JP3的CAP端、JP4的CAP端、JP5的CAP端、JP7的CAP端相连；JP1的-Vo端与JP2的+Vo端相连，JP3的-Vo端接GND1端，JP3的+Vo端接15V_1端，JP4的-Vo端接JP5的+Vo端，JP4的+Vo接+15V_2端，JP5的-Vo端接-15V_2端，JP7的-Vo端接GND3端，JP7的+Vo端接15V_3端。

所述BAT+端分别与电阻R1一端、电阻R2一端、电阻R3一端、电阻R4一端、电阻R8一端相连，电阻R1另一端、电阻R2另一端、电阻R3另一端、电阻R4另一端、电阻R8另一端、U2的2脚相连，U2的3脚接-15V端，U2的4脚接+15V端，U2的5脚分别与BATV端、电阻R13一端相连，R13另一端接GND端。

所述BATV端通过电阻R15与TLP250芯片2脚相连，TLP250芯片6、7脚通过电阻R17分别与PNP三极管Q2基极、NPN三极管Q4基极相连，Q2集电极接-15V端，Q4集电极接+15V端，Q2发射极分别与电阻R18一端、Q4发射极相连，R18另一端分别与JFET-P管Q6的B极、JFET-P管Q7的B极相连，Q6的G极、Q7的G极接GND端，Q6的C极、Q7的C极接发射探针J6。

所述接收探针J5通过电阻R20分别与PNP三极管Q3发射极、NPN三极管Q5发射极相连，Q5集电极接+15V_2端，Q3集电极接-15V_2端；Q3基极、Q5基极接电阻R19一端，R19另一端接TLP250芯片U5的6、7脚，U5的2脚通过电阻R16接U7的15脚。