[发明专利]一种红外图像海天线信噪比增强方法在审

专利信息
申请号: 201611055865.3 申请日: 2016-11-25
公开(公告)号: CN106780366A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 刘士建;李范鸣;张涌;张承泓;吴滢跃 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/30
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 红外 图像 天线 增强 方法
【说明书】:

技术领域:

发明属于数字图像处理与探测领域,具体涉及一种红外图像海天线SNR的增强方法。

背景技术:

在舰载红外目标搜索与跟踪系统中,海天线检测是进行红外目标检测跟踪的一个重要环节。一方面,确定海天线可以缩小目标搜索的区域,减少运算量,保证系统的实时性。另一方面,可以排除海天线区域外不必要的干扰信息,降低目标检测的错误率,提高目标检测的准确率。

由于海面气象条件复杂,红外辐射在海面大气中的传输衰减严重,在阴天、大雾或者夜晚的条件下,获取的红外图像对比度显著下降,图像中天空区域与海面区域的灰度值接近,海天线难以辨别,甚至海天线SNR小于1,导致海天线难以检测。

海天线的能量大小可以用海天线SNR定量地评价。红外图像定义为F,海天线上方天空区域为Rsky,下侧的海面区域为Rsea,则海天线SNR的计算公式为:

公式中mean和std分别代表区域内像元灰度的均值和标准差。

目前针对红外图像海天线增强的算法还非常少见,常用的红外图像增强算法对海天线的增强并不适用。

发明内容:

本发明提供了一种针对红外图像海天线SNR的增强方法,该方法利用海面海浪有波纹起伏、天空区域灰度均匀的特点,使用拉普拉斯模板与数学形态学相结合的方法,增强了海面波纹的面积和灰度值,保留天空背景的均匀,达到增强海天线SNR的目的。

本发明的具体步骤如下:

步骤1:虽然海面与天空区域的灰度值差别很小,但是利用天空背景均匀,海面区域有波浪起伏的特点,使用拉普拉斯模板对图像进行模板运算,增强海面区域的波浪纹理。可以表示为G=F×H,F为输入红外图像,G为增强后的图像,大小均为M×N。H为Laplacian模板:

步骤2:经过步骤1运算后,天空区域没有明显变化,只有个别噪点被增强;水面的波纹处得到大量的边缘信息,接下来要消除天空背景中的噪声点并扩充海面波纹的面积。对步骤1生成的图像进行顺序滤波,对图像中第i行第j列的像素点f(i,j),以它坐标(i,j)为中心,将它m×n邻域(m=2k+1,n=2h+1)内的所有点,按灰度值从大到小顺序排序,选取顺序为d的值作为f(i,j)的灰度;由于海面波纹的形状近似水平的长方形,本方法选用的k=1,h=4的3阶顺序滤波。

步骤3:使用数学形态学闭运算填充海面波浪缝隙中暗的区域,提升海面平均灰度,进一步增强海天线SNR。设F是输入图像;B是结构元素,可以定义数学形态学的两个基本运算膨胀和腐蚀;

膨胀定义为:

其中,f(i,j)是图像中第i行第j列的像素点,b(x,y)是B的元素,DF和DB分别是F和B的定义域,i∈[0,M-1],j∈[0,N-1],x∈[-1,1],y∈[-1,1]。膨胀计算是在由B确定的邻域中选取F+B的最大值;结构元素B为3×3的正方形区域,

腐蚀定义为:腐蚀计算是在由B确定的邻域中选取F-B的最小值;

形态学闭运算的定义是:对图像先膨胀后腐蚀。

本发明实现方法简单实用,经过测试表明,该方法可以有效地提升海天线SNR达到40%以上,便于后续的海天线提取。

附图说明

图1:海天线信噪比增强方法流程图。

图2:一幅320×256的红外海天图像。

图3:对图2拉普拉斯模板运算后的图像。

图4:对图3顺序滤波运算后的图像。

图5:对图4形态学闭运算后的图像。

具体实施方式

下面根据附图对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。

图1是本发明的处理流程图。

图2是一幅320×256的红外中波海天图像,由于拍摄时间在夜晚且有薄雾,图像中海天区域对比度很低,海天线难于分别,仅隐约可见图像下方区域有海面波纹。图2中海天线的SNR=1.56。

步骤1:对图2进行Laplacian模板运算,增强海面区域的波浪纹理。图3为模板运算后得到图像。可以看到经过运算后,天空区域没有明显变化,水面的波纹处得到大量的边缘信息,接下来将利用这些边缘信息来提升海面的灰度值。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611055865.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top