[发明专利]X射线测定装置有效

专利信息
申请号: 201611048826.0 申请日: 2016-11-23
公开(公告)号: CN106798565B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 实政光久;宫本高敬;足立龙太郎;川上嘉人 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;王立杰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 测定 装置
【说明书】:

发明涉及一种X射线测定装置。从X射线照射器(30)对多个检测元件(32a)照射扇束形状的X射线。根据各检测元件(32a)检测出的各检测数据即X射线的衰减量来计算各被检测体部分(22a)的面密度。另外,根据各检测数据计算各被检测体部分(22a)的体厚。根据计算出的体厚在各被检测体部分(22a)的体厚方向的中心位置定义虚拟测定面。将各被检测体部分(22a)的面密度与在各被检测体部分(22a)中定义的各虚拟测定面的面积相乘,计算表示各被检测体部分(22a)的质量的多个元件单位质量。通过合计多个元件单位质量来计算被检测体(22)的质量。

技术领域

本发明涉及一种X射线测定装置,特别涉及一种用于计算被检测体的质量的技术。

背景技术

目前,在医疗机构等中使用X射线测定装置。在X射线测定装置中,向被检测体照射X射线,根据透过了被检测体的X射线的衰减量来进行各种测定。目前,一般在X射线测定装置中测定骨盐量或体脂肪率等,但是近年来提出一种在X射线测定装置中测定被检测体的质量的技术。例如日本特表2013-532823号公报公开一种使用X射线测定装置求出被检测体的重量的技术。

作为在X射线测定装置中测定被检测体的质量的一个方法,列举以下的方法。图5是用于说明X射线测定装置中的现有的质量测定方法的图。如图5所示,在X射线光源1与多个检测元件3之间配置被检测体5。从X射线光源照射的X射线是扇束,从X射线光源1向x轴方向扩展地照射。用1点划线表示从X射线光源照射的X射线的照射范围。

多个检测元件3在扇束的扩展方向排列。用2点划线分隔来表示各检测元件3检测出的X射线的透过区域。各个透过区域中包括被检测体5的一部分即被检测体部分5a。例如在与检测元件3a对应的透过区域中包括用斜线表示的被检测体部分5a。另外,检测元件3a(以及X射线光源1)在y轴方向扫描,因此与检测元件3a对应的被检测体部分5a时刻发生变化。

如果X射线光源1和多个检测元件3在y轴方向扫描,则扇束形状的X射线在y轴方向扫描,其结果得到由2维排列的多个检测数据组成的检测数据群。图6表示得到的2维检测数据群9的概念图。

根据各检测元件3检测出的检测数据来求出各被检测体部分5a的面密度(单位面积的质量)。详细是在检测数据群9的各检测数据9a中求出对应的被检测体5a的面密度。

通过将各检测数据9a所对应的与被检测体部分5a相关的单位面积与根据各检测数据9a计算出的各被检测体部分5a的面密度相乘,计算各检测数据9a的元件单位质量。元件单位质量是各被检测体部分5a的质量。在各被检测体部分5a内定义与各被检测体部分5a相关的单位面积,将其设定为与检测元件面3b平行设置的面(以下记载为“虚拟测定面”)的面积。即,与各被检测体5a相关的单位面积表示各被检测体部分5a的水平截面(与检测元件面3b平行的面的截面)的面积。

虚拟测定面7(参照图5)按照各被检测体5a进行定义。若将X射线光源1与虚拟测定面7之间的距离设为l1,将X射线光源1与检测元件面3b之间的距离设为l2,将各检测元件3的扇束的扩展方向(x轴方向)的长度设为dx,则通过以下公式求出虚拟测定面7的x轴方向的长度(图5中的Δx)。

[数学式1]

另外,虚拟测定面7的y轴方向的长度是在所有的检测元件3中得到检测数据之前由X轴光源1以及多个检测元件3在y轴方向移动后的距离,将其设为Δy。于是,通过以下公式得到虚拟测定面7的面积。

[数学式2]

这样得到的各虚拟测定面7的面积是与各被检测体部分5a相关的单位面积。

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