[发明专利]用于基于温度系数产生参考电压的电路和方法

说明书

对相关申请的交叉引用

此申请要求于2015年11月23日向韩国特许厅提交的韩国专利申请No.10-2015-0163983的权益，通过引用将其公开全部合并于此。

技术领域

本公开涉及参考电压的产生，并且更具体地，涉及用于基于温度系数产生参考电压的电路和方法。

背景技术

集成电路中包括的器件可以具有随着温度变化的特性。例如，当晶体管周围的温度升高或降低时，晶体管的阈电压可以改变。集成电路可以包括用于检测集成电路的温度的温度传感器，并且可以基于温度传感器提供的温度代码来补偿随着温度变化的器件的特性。

在集成电路中可以为了各种目的而使用参考电压，并且当参考电压的准确度增加时，可以确保集成电路的正常操作或者可以提高集成电路的性能。对于其特性随着集成电路的温度升高或降低而改变的器件，参考电压也可以被产生为根据温度变化而改变。当参考电压根据温度变化改变的量不准确时，集成电路可能操作异常。

发明内容

本发明构思的各种方面提供参考电压的产生，并且更具体地提供产生根据温度变化准确地改变的参考电压的电路和方法。

一种集成电路可以包括：温度传感器，被配置为通过检测集成电路的温度来提供温度代码；参数储存单元，被配置为存储和提供用于调整相对于集成电路的温度而变化的参考电压的相对改变量的温度系数、用于补偿参考电压的第一、绝对偏移的偏移代码、和用于补偿参考电压相对于集成电路的温度的第二、相对偏移的偏移系数；以及参考电压产生电路，被配置为通过对温度代码、温度系数、偏移代码、和偏移系数执行数字计算来产生参考电压。

例如，集成电路可以包括用于产生参考电压的参考电压产生电路。参考电压产生电路可以包括数字运算电路和数模转换器。数字运算电路被配置为使用调整参考电压与温度代码之间的相对关系的系数、和调整参考电压与温度代码之间的绝对关系的单独代码来调整参考电压与温度代码的关系，其中温度代码反映集成电路处的温度。数模转换器被配置为基于来自数字运算电路的输出产生参考电压。

一种在集成电路中产生参考电压的方法可以包括：(a)接收用于指示集成电路的温度的温度代码；(b)使用调整参考电压与温度代码之间的关系的梯度的第一系数来调整参考电压与温度代码的关系；(c)使用相等地调整相对于相应的温度代码的每个参考电压的值的偏移代码来调整参考电压与温度代码的关系；以及(d)基于来自(b)和(c)的经调整的参考电压与温度代码的关系来产生参考电压。

附图说明

根据结合附图的以下详细描述，将更清楚地理解本发明构思的实施例，其中：

图1是根据一个实施例的集成电路的框图；

图2是根据一个实施例的图1的参考电压产生器的框图；

图3A和图3B是示出根据某些实施例的图2的数模转换器(DAC)的示例的图；

图4是示出由于DAC电压的偏差而在图3A和图3B的DAC中发生的误差的曲线图；

图表5示出用于解释由于DAC电压的偏差而在根据温度变化的参考电压中发生的误差的曲线图；

图6是示出根据一个实施例的图2的数字处理电路的示例的图；

图7示出用于解释根据一个实施例的去除参考电压的误差的过程的曲线图；

图8是示出根据一个实施例的图1的参数储存单元的示例的框图；

图9A和图9B是用于解释根据某些实施例的将参数写到非易失性存储器的过程的框图；

图10是根据实施例的集成电路的框图；

图11A和图11B是示出根据某些实施例的图10的参考电压产生器的示例的图；

图12是根据一个实施例的产生参考电压的方法的流程图；

图13是根据一个实施例的提供用于产生参考电压的输入的方法的流程图；

图14是根据实施例的包括参考电压产生器的集成电路的框图；

图15是根据一个实施例的集成电路的视图；

图16是根据一个实施例的包括集成电路的存储模块的视图；以及

图17是根据一个实施例的计算系统的框图。

具体实施方式

图1是根据一个实施例的集成电路1000的框图。作为通过使用半导体工艺制造的电子电路的集合的集成电路1000可以是例如存储器件、通用处理器、模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)、电源管理集成电路(PMIC)、或接口电路。