[发明专利]一种指纹匹配方法和装置在审

专利信息
申请号: 201611028560.3 申请日: 2016-11-21
公开(公告)号: CN108090396A 公开(公告)日: 2018-05-29
发明(设计)人: 孙培双;李军;李平立;程卫杰 申请(专利权)人: 方正国际软件(北京)有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100080 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 输入特征 参数集合 模板指纹 输入指纹 匹配 方法和装置 匹配特征点 模板特征 匹配关系 细节特征 指纹匹配 通信技术领域 点匹配
【权利要求书】:

1.一种指纹匹配方法,其特征在于,包括:

获取输入指纹中的N个输入特征点中的每个输入特征点与其余每个输入特征点之间的相对参数值,得到所述N个输入特征点中每个输入特征点的第一参数集合;其中,所述N为大于1的整数;

将所述每个输入特征点的第一参数集合与模板指纹中的模板特征点的第二参数集合进行匹配,确定出M对相匹配的第一参数集合和第二参数集合;所述M为大于等于1的整数;其中,所述模板指纹中的每个模板特征点的第二集合中包括该模板特征点与其它模板特征点之间的相对参数值;

根据所述M对相匹配的第一参数集合和第二参数集合中的每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合,确定出与所述N个输入特征点中每个输入特征点匹配的模板特征点,得到每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对;

根据所述M对相匹配的第一参数集合和第二参数集合中的每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对,确定所述输入指纹与所述模板指纹之间的匹配程度。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述相对参数值包括相对距离和相对角度;

每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对满足以下内容:

第一输入特征点与第二输入特征点之间的相对距离,与第一模板特征点与第二模板特征点之间的相对距离的差值小于距离差值阈值;

所述第一输入特征点与所述第二输入特征点之间的相对角度,与所述第一模板特征点与所述第二模板特征点之间的相对角度的差值小于角度差值阈值;

其中,所述第一输入特征点和所述第二输入特征点为所述N个输入特征点中的任两个输入特征点;所述第一模板特征点和所述第二模板特征点为所述模板指纹中的两个模板特征点;所述第一输入特征点与所述第一模板特征点为一对匹配特征点对;所述第二输入特征点与所述第二模板特征点为一对匹配特征点对。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根据所述M对相匹配的第一参数集合和第二参数集合中的每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对,确定所述输入指纹与所述模板指纹之间的匹配程度,包括:

针对所述M对相匹配的第一参数集合和第二参数集合中的每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合,根据所述相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对,对所述输入指纹和所述模板指纹进行对齐;确定所述相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对中每对匹配特征点对中输入特征点和模板特征点之间的剩余残差;

根据所述M对相匹配的第一参数集合和第二参数集合中的每对相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对中每对匹配特征点对的相对参数值和剩余残差,确定所述输入指纹与所述模板指纹之间的匹配程度。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对,对所述输入指纹和所述模板指纹进行对齐,包括:

根据映射残方差算法,计算所述相匹配的第一参数集合和第二参数集合对应的N对匹配特征点对之间的坐标映射关系;

根据所述N对匹配特征点对之间的坐标映射关系,确定所述输入指纹和所述模板指纹之间的变换参数;

根据所述变换参数,对所述输入指纹和所述模板指纹进行对齐。

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