[发明专利]一种系统内干扰的检测方法及设备

说明书

本发明提供一种系统内干扰的检测方法及设备。本发明实施例提供的系统内干扰检测方法包括：基站检测小区受到的干扰，根据小区受到的干扰，确定小区在各资源块上的底噪水平；获取小区的同系统同频邻小区内的终端在各资源块上被调度的概率；根据底噪水平以及被调度的概率，判断小区受到的干扰是否为系统内干扰。由于一个小区的同系统同频邻小区内的终端在各资源块上被调度时对该小区造成干扰，因此该小区的同系统同频邻小区内的终端在各资源块上被调度的概率与该小区受到干扰是一致的，因此可将该小区的同系统同频邻小区内的终端在各资源块上被调度的概率与该小区在各资源块上的底噪水平相比，判断小区受到的干扰是否为系统内干扰。

技术领域

本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种系统内干扰的检测方法及设备。

背景技术

随着无线通信市场的快速发展，尤其是近年来数据业务的爆发，对网络覆盖的范围和容量的要求越来越高。为此，运营商投入巨资，部署了大量的无线网络，网络覆盖的小区半径也越来越小，在这种情况下，网络底噪不断抬升，系统间的干扰也越来越严重。

以分时长期演进(Time Division Long Term Evolution，简称TD-LTE)为例，如图1所示，示出了中国移动(China Mobile，简称CM)、中国联通(China unicom，简称CU)、中国电信(China Telecommunications，简称CT)的部分频谱示意图。从图中可以看出，CM的F频段的1880-1900MHZ频率所处的位置特殊，其存在于1800MHz数字蜂窝系统(DigitalCellular System at 1800MHz，简称DCS1800)、个人手持式电话系统(Personal Handy-phone System，简称 PHS)、码分多址2000(Code Division Multiple Access 2000，简称CDMA2000)、宽带码分多址(Wideband Code Division Multiple Access，简称W-CDMA)系统之间，会受到这些系统的干扰。

另外在现网中，有一些位于F频段的非法干扰器，此类干扰器在全时隙内发射干扰信号，对基站的上行造成明显的干扰，影响用户上行的通信质量，比如，目前的一些时分双工(Time Division Duplexing，简称TDD)系统的干扰器，上行和下行都在一个频率上，若不区分上下行时隙，在全时隙内发射干扰信号，会干扰到基站的上行信号，基站的上行底噪抬高，该小区覆盖下所有用户的上行通信质量都会受到影响。另外，还有一些用户私自安装直放站，由于直放站射频指标较差，造成底噪过高，也会影响到基站的上行通信质量。以上都是系统外干扰。

同时，也会有系统内干扰，以TD-LTE系统为例，由于系统内用户数目增多，因为是同频组网，周边小区的上行信号对本小区都是干扰，用户量增多之后，本小区整体的底噪抬升。进一步的，有时还会存在越区的情况，即终端在本小区的地理位置却接入到其他小区的基站，由于该基站距终端所在的服务小区较远，终端就会以较大的功率发射，因此会对本小区的底噪造成抬升。

目前系统的外部干扰和系统内干扰常常同时发生，这些干扰叠加在一起，很难判断出系统内的干扰，而针对产生的干扰是系统内干扰还是系统外干扰进行具体分析，并根据分析得到的实际情况采取不同的措施减少干扰，能够提高通信质量，改善网络的运行环境。

发明内容

本发明实施例提供一种系统内干扰检测的方法及设备，用于检测系统内的干扰。

本发明实施例提供了一种系统内干扰的检测方法，包括：

检测小区受到的干扰；

根据所述小区受到的干扰，确定所述小区在各资源块上的底噪水平；

获取所述小区的同系统同频邻小区内的终端在各资源块上被调度的概率；

根据所述小区在各资源块上的底噪水平以及所述小区的同系统同频邻小区内的终端在各资源块上被调度的概率，判断所述小区受到的干扰是否为系统内干扰。