[发明专利]一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法

权利要求书

1.一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法，包括三个步骤，第一步骤：校准第一二氧化硫传感器，以第一二氧化硫传感器为基础校准第一光谱仪，得到校准系数k1；第二步骤：校准第二光谱仪，以第二光谱仪为基础校准第二二氧化硫传感器，得到校准系数k2；第三步骤：将两个校准系数进行比对，确定最佳校准条件。

2.根据权利要求1所述的一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法，其特征在于：

所述第一步骤包括以下步骤：

(1)第一二氧化硫传感器零点校准：将所述第一二氧化硫传感器置于第一样品室内，第一样品室内充满零点校准气体，所述第一二氧化硫传感器与零点校准气体接触，输出信号为零点校准提供依据，由此完成所述第一二氧化硫传感器的零点校准；

(2)第一二氧化硫传感器灵敏度校准：将所述第一二氧化硫传感器置于第二样品室内，第二样品室内充满标准气体，所述第一二氧化硫传感器与标准气体接触，输出信号为灵敏度校准提供依据，由此完成所述第一二氧化硫传感器的灵敏度校准；

(3)将所述第一二氧化硫传感器置于第三样品室内，第三样品室内充满待测气体，得到第一测定结果；

(4)将所述待测气体置于气体池内，启动第一光谱仪，得到测定结果，以所述第一二氧化硫传感器测定结果作基准进行对比，得到校准系数k1，完成所述第一光谱仪校准。

3.根据权利要求1所述的一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法，其特征在于：

所述第二步骤包括以下步骤：

(1)对第二光谱仪波数准确度和分辨率进行校准；

(2)将所述待测气体置于第二光谱仪气体池内，得到第二测定结果；

(3)将第二二氧化硫传感器置于所述待测气体中，得到测定结果，以所述第二光谱仪测定结果作基准进行对比，得到校准系数k2，完成所述第二二氧化硫传感器校准。

4.根据权利要求1所述的一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法，其特征在于：

所述第三步骤包括以下步骤：

将校准系数k1和校准系数k2进行比对，确定最佳校准条件。

5.根据权利要求2所述的一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法，其特征在于：所述的零点校准气体是纯度为99.99％的高纯氮气或者二氧化硫含量小于1x10-6的清洁空气。

6.根据权利要求2所述的一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法，其特征在于：所述的标准气体是所述的待测气体浓度的80％。

7.根据权利要求3所述的一种二氧化硫含量传感器和光谱仪相互校验的方法，其特征在于：所述的光谱仪的波数准确度和分辨率校正的方法按照中国药典规定的方法进行。