[发明专利]基于干涉测量的井下分析工具

权利要求书

1.一种井下工具，包括：

井下光探测器；

宽带光源和所述光探测器之间的光路上的井下双光束干涉仪，其中所述干涉仪从沿所述光路接收的光产生光谱化光束，所述光谱化光束具有可通过所述光谱化光束的强度的时间变化来测量的具有多个频率分量的光谱成分；

所述光路上的窗口，所述窗口能够使沿所述光路接收的光照射待分析的材料；以及

电子处理装置，所述电子处理装置连接到光探测器以探测代表所述光谱化光束的强度的时间变化的电子信号，并且从所述电子信号确定所述多个频率分量以及所述材料的参数；

所述干涉仪包括具有低热膨胀系数的集成光路元件，且

所述集成光路元件包括分束器。

2.根据权利要求1所述的工具，其中所述集成光路元件还包括两个固定反射镜以及两个具有中心孔的固定反射镜。

3.根据权利要求1所述的工具，其中所述集成光路元件与旋转角形反射器联用。

4.根据权利要求1所述的工具，其中所述旋转角形反射器在偏移轴上旋转以使所述干涉仪中的两个光路的长度差周期性变化，从而使从所述干涉仪传播到所述井下光探测器的宽带光光谱化。

5.一种井下分析方法，包括：

沿包括井下双光束干涉仪和用于井下样品照射的窗口的光路引导来自于井下光源的准直光；

作为时间的函数来调制所述干涉仪的一个臂长，以在光到达井下探测器之前产生光谱化光束，所述光谱化光束具有可通过所述光谱化光束的强度的时间变化来测量的具有多个频率分量的光谱成分；

通过所述井下探测器测量所述光谱化光束的强度的时间变化；以及

使用测量到的所述光谱化光束的强度的时间变化来确定所述多个频率分量以及所述井下样品的特性，

所述干涉仪包括具有低热膨胀系数的集成光路元件，且

所述集成光路元件包括分束器。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述集成光路元件还包括两个固定反射镜以及两个具有中心孔的固定反射镜。

7.根据权利要求5所述的方法，其中所述集成光路元件与旋转角形反射器联用。

8.根据权利要求5所述的方法，其中所述旋转角形反射器在偏移轴上旋转以使所述干涉仪中的两个光路的长度差周期性变化，从而使从所述干涉仪传播到所述井下光探测器的宽带光光谱化。