[发明专利]一种测定氧化铝样品中杂质含量的方法及样品预处理方法有效
| 申请号： | 201610985522.0 | 申请日： | 2016-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN106568643B | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 舒众众;李青;李兆廷;石志强;李震;蔡军兴;魏文生;胡美红;孔秀梅;张桂龙;杨静怡 | 申请（专利权）人： | 芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 耿超;王浩然 |
| 地址： | 241000 安徽省芜湖*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测定 氧化铝 样品 杂质 含量 方法 预处理 | ||
1.一种测试氧化铝样品中杂质含量的方法，其特征在于，该方法包括：使待测氧化铝样品与高氯酸和浓磷酸混合后加热溶解，得到待测溶液，其中，相对于1克的所述待测氧化铝样品，所述高氯酸的用量为12-16毫升，所述浓磷酸的用量为70-76毫升；
采用等离子发射光谱检测仪检测所述待测溶液中杂质元素的含量，所述杂质元素包括Na、Si、K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Pb、Cd、Mg、Ba、Sr、Zn、Hg、As、Sb和Li中的至少一种；
其中，所述采用等离子发射光谱检测仪检测所述待测溶液中杂质元素的含量的方法包括：
采用标准曲线法，利用等离子发射光谱检测仪检测所述待测溶液中的所述杂质中Si元素的含量；以及
采用标准加入法，利用等离子发射光谱检测仪检测所述待测溶液中的其余所述杂质元素的含量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述高氯酸的质量浓度为70.0％-72.0％，所述浓磷酸的质量浓度为85.0％以上。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的加热溶解在铂蒸发皿中进行。
4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述加热溶解的温度为300-400℃。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测氧化铝样品的粒径小于106μm。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法包括：所述待测氧化铝样品经洗涤、烘干和冷却后与高氯酸和浓磷酸混合。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：采用电感耦合等离子光谱发生仪对所述待测溶液进行定性扫描，并根据所述定性扫描结果配制标准溶液。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述定性扫描的扫描波长范围为180nm-800nm。
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