[发明专利]一种波长调制吸收法同步测量流场压强、温度、浓度的方法有效
申请号: | 201610961885.0 | 申请日: | 2016-11-04 |
公开(公告)号: | CN106568479B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 陶波;胡志云;张振荣;叶景峰;王晟;赵新艳 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究所 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02;G01N21/39 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 汪海艳 |
地址: | 710024 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 压强 流场 波长调制 同步测量 吸收信号 吸收法 反演 调制 壁面压力 测量压强 测量原理 常规压力 动态变化 影响曲线 常规的 传感器 高压强 双线 测量 修正 | ||
1.一种波长调制吸收法同步测量流场压强、温度、浓度的方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤一:调制二极管激光器波形,输出激光,所述激光穿过待测流场后由光电探测器将光强信号转化为电压信号,经锁相检测输出波长调制吸收信号;获得调制吸收信号的宽度随待测流场压强变化的曲线;
步骤二:利用调制吸收信号的宽度反演压强;
计算公式为:
P=f(w) (1)
式中,P为流场的压强,f(w)表示压强随调制信号宽度变化曲线,w表示调制吸收信号宽度;
步骤三:计算压强修正系数K,其表达式为:
式中,P为步骤二中获得的压强,T0为参考温度,H(P,T0)为在参考温度T0下调制吸收信号强度H随压强P变化曲线,下标1,2表示吸收线1与吸收线2;
步骤四:引入压强修正系数,利用TDLAS双线法测量原理计算流场的温度;
式中,h是普朗克常量(J·s),c是光速(cm·s-1),k是波尔兹曼常量(J·K-1),E是吸收谱线下能级的能量(cm-1),T0为参考温度(K),H为测量的吸收线调制吸收信号强度;I(ν)为吸收线处的激光光强,下标1,2表示吸收线1与吸收线2;
步骤五:利用任意一条调制吸收信号强度计算组分浓度,计算公式为:
式中,X是吸收组分的摩尔分数,H为测量的任意一条吸收线的调制吸收强度,P为步骤二中获得的压强(atm),L为激光在吸收介质中的传播长度(cm),S(T)为吸收线的谱线强度(cm-2·atm-1),H(P,T0)为在参考温度T0下调制吸收信号强度H随压强P变化曲线。
2.根据权利要求1所述的波长调制吸收法同步测量流场压强、温度、浓度的方法,其特征在于:所述的吸收线1与吸收线2分别对应水在1342.114nm与1454.826nm处的吸收谱线。
3.根据权利要求1所述的波长调制吸收法同步测量流场压强、温度、浓度的方法,其特征在于:I(ν)采用同步监测激光光强或一次谐波信号的方式获取。
4.根据权利要求1所述的波长调制吸收法同步测量流场压强、温度、浓度的方法,其特征在于:所述二极管激光器的波长受一个锯齿波和正弦波叠加的波形调制。
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