[发明专利]主观式检眼装置

说明书

主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。

技术领域

本发明涉及主观式检眼装置。

背景技术

主观式检眼装置例如主观地测定受检眼的光学特性。在日本专利公开公报特开平5-176893号所公开的主观式检眼装置中，例如，将能够进行屈光度调节的矫正光学系统单独配置在受检人的眼前。利用借助该矫正光学系统的投光，将检查视标的像形成在受检眼的眼底。检查人收到受检人的响应，进行矫正光学系统的调节直至受检人能适当地看到该视标为止，由此求出矫正值。检查人基于该矫正值测定受检眼的屈光力。另外，例如，在美国专利公报第3874774号所公开的主观式检眼装置中，经由矫正光学系统将检查视标的像形成在受检人的眼前。在该装置中，不将矫正光学系统配置于眼前地测定受检眼的屈光力。

当测定受检眼的光学特性时，如果使用在眼前配置装置的一部分的装置，则存在受检眼相对于在眼前配置的装置的一部分进行调节、致使测定精度降低的情况。因此，当测定受检眼的光学特性的情况下，优选如受检人在日常生活中观看事物那样的自然的状态(眼前不配置装置的一部分的开放状态)下、通过主观式测定来测定光学特性，或者通过客观式测定来测定光学特性。

发明内容

本发明的一个目的在于提供以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置能够进行自然状态下的主观式测定以及客观式测定，并能够高精度地进行测定。

另外，以往，在主观式检眼装置中，由于构成装置的各部件而产生光学像差。因此，对光学像差进行修正。然而，当主观地测定受检眼的光学特性时，光学像差会因测定条件(例如，眼屈光力、检查距离，辐辏角度)而变化。因此，如果以恒定的用于修正光学像差的修正量进行修正，则存在难以抑制光学像差的情况。

本发明的另一目的在于提供以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置能够抑制光学像差，并且，能够高精度地测定受检眼的光学特性。

另外，在主观式检眼装置中，在主观地测定受检眼的光学特性时，调整受检眼与主观式检眼装置的位置关系的动作(校准动作)较为重要。例如，如果未适当地进行校准动作，则当主观地测定受检眼的光学特性时，存在受检眼的光学特性的测定结果的精度降低的情况。另外，例如，存在受检眼与主观式检眼装置的位置关系的调整较为费时的情况。在这种情况下，在主观地测定受检眼的光学特性时，存在无法高效地进行校准动作的情况。

本发明的又一目的在于提供以下的主观式检眼装置。该主观式检眼装置在主观地测定受检眼的光学特性时，能够高精度地测定受检眼的光学特性。进而，该主观式检眼装置还能够高效地进行校准动作。