[发明专利]图像探测方法与图像探测装置在审
申请号: | 201610958549.0 | 申请日: | 2016-10-27 |
公开(公告)号: | CN106973273A | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 魏鸣圻 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N9/04 | 分类号: | H04N9/04;H04N5/225 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司11111 | 代理人: | 白华胜,王蕊 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 探测 方法 装置 | ||
1.一种图像探测方法,包含:
从图像传感器的像素阵列,接收由该像素阵列探测的数据,该探测的数据包含图像数据与额外信息;
从该探测的数据获取该额外信息;以及
以该探测的数据中没有该额外信息的该图像数据的处理方式来处理该探测的数据。
2.如权利要求1所述的图像探测方法,其特征在于,该额外信息包含相差信息,其中该像素阵列包含能探测该图像数据的多个成像像素,该像素阵列还包含能够探测该额外信息的一个或多个信息像素,其中该一个或多个信息像素包含能探测电磁波的第一相位的一个或多个第一相位像素以及能探测电磁波的不同于该第一相位的第二相位的一个或多个第二相位像素。
3.如权利要求2所述的图像探测方法,其特征在于,该像素阵列依照行与列排列,其中该图像传感器还包含色彩滤波器阵列,使得该像素阵列的每个像素与该色彩滤波器阵列的特定滤波器对齐,来探测红光、绿光或蓝光光谱内的电磁波,其中该一个或多个第一相位像素与该一个或多个第二相位像素中的每个占据与该色彩滤波器阵列对齐的特定位置,来探测该蓝光光谱内的电磁波,并分别被两个相对列方向的至少一列像素与两个相对行方向的至少一行像素所包围,其中该些像素内包含用来探测至少该蓝光光谱内的电磁波的成像像素。
4.如权利要求1所述的图像探测方法,其特征在于,该额外信息包含红外光信息,该像素阵列包含能够探测该图像数据的多个成像像素,其中该像素阵列还包含能探测该额外信息的一个或多个信息像素,其中该一个或多个信息像素包含一个或多个红外像素。
5.如权利要求4所述的图像探测方法,其特征在于,该像素阵列依照行与列排列,其中该图像传感器还包含色彩滤波器阵列,使得该像素阵列的每个像素与该色彩滤波器阵列的特定滤波器对齐,来探测红光、绿光或蓝光光谱内的电磁波,其中该一个或多个红外像素的每个占据与该色彩滤波器阵列对齐的特定位置,来探测该蓝光光谱内的电磁波,并分别被两个相对列方向的至少一列像素与两个相对行方向的至少一行像素所包围,其中该些像素内包含用来探测至少该蓝光光谱内的电磁波的成像像素。
6.如权利要求1所述的图像探测方法,其特征在于,该像素阵列包含能够探测该图像数据的多个成像像素,其中该像素阵列还包含能够探测该额外信息的一个或多个信息像素,其中从该探测的数据获取该额外信息的该步骤包含从该一个或多个信息像素接收该额外信息,而不将该额外信息的处理作为该探测的数据的处理的一部分。
7.如权利要求1所述的图像探测方法,其特征在于,以该探测的数据中没有该额外信息的该图像数据的处理方式来处理该探测的数据的该步骤包含:
在增益阶段,对该探测的数据执行增益乘法操作;
在缺陷纠错阶段,通过比较该像素阵列的特定像素探测的数据与相邻于该特定像素的一个或多个其他像素探测的数据,来决定该像素阵列的每个像素所探测的数据中是否存在异常;
在该缺陷纠错阶段,回应于该像素阵列的一个或多个像素探测的数据中存在异常的决定,纠正该异常;以及
在色彩内插阶段,使用该图像传感器中的能够探测该图像数据的多个成像像素所用的内插方法,对该探测的数据进行内插。
8.如权利要求7所述的图像探测方法,其特征在于,从该探测的数据获取该额外信息的步骤包含在该缺陷纠错阶段之时或之前从该探测的数据抽取该额外信息。
9.一种图像探测方法,包含:
从图像传感器的像素阵列,接收由该像素阵列探测的数据,该像素阵列包含能够探测图像数据的多个成像像素,该像素阵列还包含能够探测额外信息的一个或多个信息像素,该探测的数据包含图像数据与该额外信息,该图像传感器更包含拜耳滤波器马赛克,使得该像素阵列的每个像素与该拜耳滤波器马赛克的特定滤波器对齐,来探测红光、绿光或蓝光光谱内的电磁波;
从该探测的数据获取该额外信息;以及
以该探测的数据中没有该额外信息的该图像数据的处理方式来处理该探测的数据。
10.如权利要求9所述的图像探测方法,其特征在于,该额外信息包含相差信息,红外光信息,或两者组合。
11.如权利要求9所述的方法,从该探测的数据获取该额外信息的该步骤包含从该像素阵列接收该额外信息,而不将该额外信息的处理作为该探测的数据的处理的一部分。
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