[发明专利]光电测量装置、光电测量方法、计算机可读介质

权利要求书

1.一种用于距离确定和/或位置确定的光电测量装置(1)，所述光电测量装置(1)包括：

用于生成第一波长的光学测量辐射(30、36)的辐射源(35、40、75、310)；

用于测量辐射的时间分辨检测和/或位置分辨检测的光电传感器(38、82)；

光学装置(15、34、67、71、77、80、83、84、85、330、340)，其被设计用于光束引导，使得

所述测量辐射(30、36)能够以定向的方式朝向待测的目标(41、60a、61)发射到自由空间中，并且

由所述目标(41、60a、61)反射的测量辐射(30b)被至少部分地引导到所述光电传感器(38、82)上，

其特征在于，

所述辐射源(35、40、75、310)被设计成使得

所述第一波长在1210nm至1400nm之间的近红外范围内，以及

所发射的测量辐射(30、36)的功率在时间平均和空间平均上为至少14mW，与是否提供空间静态或枢转以及连续波或脉冲的测量波束无关，并且

所述光电测量装置(1)包括光频变换器(69)，由此，所述测量辐射(30、36)的至多25％的分量能够被转换为具有第二波长的可见光，使得能够发射所述第二波长的附加辐射(30a)。

2.根据权利要求1所述的光电测量装置(1)，其中，所述光电测量装置(1)为激光跟踪仪、激光扫描仪、轮廓仪、大地测量装置或光电测向仪或光电测距仪。

3.根据权利要求1所述的光电测量装置(1)，

其特征在于，所述第一波长在1280nm至1320nm之间。

4.根据权利要求3所述的光电测量装置(1)，其中，所述第一波长在1290nm至1310nm之间。

5.根据权利要求1所述的光电测量装置(1)，

其特征在于，所述第一波长在1320nm至1400nm之间。

6.根据权利要求5所述的光电测量装置(1)，其中，所述第一波长在1325nm至1345nm之间。

7.根据前述权利要求中任一项所述的光电测量装置(1)，

其特征在于，所述测量辐射(30、36)以至少40mW的平均功率被发射。

8.根据权利要求7所述的光电测量装置(1)，其中，所述测量辐射(30、36)以至少100mW的平均功率被发射。

9.根据权利要求1所述的光电测量装置(1)，

其特征在于，所述辐射源(35、40、75、310)被设计为生成具有信号调制的测量辐射(30、36)。

10.根据权利要求9所述的光电测量装置(1)，其中，所述辐射源(35、40、75、310)被设计为生成具有突发调制或频率调制的测量辐射(30、36)。

11.根据权利要求1所述的光电测量装置(1)，

其特征在于，所述辐射源(35、40、75、310)被设计为

激光源，或者

具有光学放大器的超发光LED即SLED。

12.根据权利要求11所述的光电测量装置(1)，其中，所述激光源为激光二极管或光纤激光仪。

13.根据权利要求12所述的光电测量装置(1)，其中，所述激光源为InGaAs或InGaAs激光二极管。