[发明专利]阵列基板检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种阵列基板检测装置及利用所述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测的检测方法。

背景技术

阵列基板制作完成后，由于工艺条件的限制，导致阵列基板上可能会出现一些不良，而肉眼很难直接从阵列基板上看到这些不良，因此，目前检测不良的方法是在将阵列基板与对盒基板对盒形成显示面板后，进行点灯的方式检测。但是，检测时显示面板已经对盒完成，如果产生不良，就需要再将阵列基板与对盒基板分离，降低了生产效率。

因此，如何在对盒形成显示面板之前及时检测出阵列基板的不良，成为本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种阵列基板检测装置及利用所述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测的检测方法，以在对盒形成显示面板之前及时检测出阵列基板的异常。

为了解决上述技术问题之一，本发明提供一种阵列基板检测装置，包括：

电极板，用于与待检测的阵列基板相对设置，所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部；

检测模块，所述检测模块与每个所述电极部均相连，用于检测每个所述电极部上的电信号。

优选地，所述阵列基板检测装置还包括：

电源模块，用于向待检测的阵列基板充电。

优选地，所述检测模块还用于获取每个电极部的位置；所述阵列基板检测装置还包括：

处理模块，所述处理模块与所述检测模块相连，用于将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比，当每个电信号均位于标准电信号范围内时，判定所述阵列基板正常；当存在超出所述标准电信号范围的电信号时，获取该电信号对应的电极部的位置。

优选地，所述处理模块还用于获取所述检测模块所测得的各个电信号的平均值和与所述阵列基板对应的预设波动值，并将[v0-Δv,v0+Δv]作为所述标准电信号范围，其中，v0为所述电信号的平均值，Δv为所述预设波动值。

优选地，所述电极部排列为多行多列。

优选地，每个电极部均与所述待检测的阵列基板的1～100个像素单元对应。

优选地，所述电极板还包括绝缘基底，所述电极部设置在所述绝缘基底上。

相应地，本发明还提供一种上述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测的检测方法，所述检测方法包括：

将所述阵列基板检测装置的电极板与待检测的阵列基板相对且绝缘间隔设置，以使得每个电极部与所述待检测的阵列基板均形成电容；

向所述待检测的阵列基板充电；

利用所述检测模块检测每个电极部上的电信号，以根据每个电极部上的电信号判断所述阵列基板是否异常。

优选地，所述检测方法还包括：

检测每个电极部的位置；

将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比，当每个电信号均位于标准电信号范围内时，判定阵列基板正常；当存在位于所述标准电信号范围以外的电信号时，获取与该电信号对应的电极部的位置。

优选地，将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比的步骤之前还包括：

获取所有电信号的平均值和与所述阵列基板对应的预设波动值；

将[v0-Δv,v0+Δv]作为所述标准电信号范围，其中，v0为所述电信号的平均值，Δv为所述预设波动值。

在本发明中，所述阵列基板检测装置中的电极板和阵列基板可以形成多个电容，电极部相当于电容的一个极板，阵列基板与每个电极部相对的部分相当于电容的另一个极板，因此，当向阵列基板的不同位置提供相同的电信号时，可以通过电极部上所产生的电信号判断阵列基板是否出现异常；并且，处理模块能够根据各个电信号的值以及各电极部的位置判断异常电信号的位置，从而便于检测人员判断阵列基板上发生异常的位置。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明的实施例中利用所述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测时的示意图；

图2是本发明的实施例中电极部的分布示意图；

图3是本发明实施例中根据电极部上电信号拟合的不同电信号值所对应的电极部的数量关系示意图；

其中，附图标记为：

10、阵列基板；20、电极板；21、电极部；22、绝缘基底；30、检测模块；40、处理模块；50、电源模块。