[发明专利]一种粉末自动摊平设备及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201610935821.3 申请日: 2016-11-01
公开(公告)号: CN108007354B 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 袁学庆;王和伟;王富强;许凯林 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01N15/06
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 白振宇
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 粉末 自动 设备 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种粉末自动摊平设备,其特征在于:包括控制机柜(1)、直线模组A(2)、摊平模具(3)、激光测距传感器(4)、气路软管(6)、清洁吸嘴(7)、吸尘装置(8)、直线模组B(9)、直线模组C(10)、摊粉头A(11)、摊粉头B(12)及电动转台(13),其中直线模组B(9)及直线模组C(10)并排安装在控制机柜(1)的一侧,所述直线模组A(2)安装在该控制机柜(1)的上表面、位于直线模组B(9)及直线模组C(10)的下方;所述电动转台(13)与直线模组A(2)相连,由该直线模组A(2)带动沿水平方向直线往复运动,在所述电动转台(13)上安装有由电动转台(13)驱动旋转的摊平模具(3);所述清洁吸嘴(7)与直线模组B(9)相连、由直线模组B(9)带动沿垂直方向直线往复运动,且该清洁吸嘴(7)通过所述气路软管(6)与吸尘装置(8)相连通;所述直线模组C(10)上分别安装有摊粉头A(11)及摊粉头B(12),该摊粉头A(11)及摊粉头B(12)由所述直线模组C(10)带动沿垂直方向直线往复运动,与由所述电动转台(13)驱动旋转的摊平模具(3)配合,将该摊平模具(3)内的粉末摊平;所述激光测距传感器(4)安装在控制机柜(1)上,位于直线模组B(9)及直线模组C(10)的一侧,摊平后的摊平模具(3)在所述直线模组A(2)的带动下运动至激光测距传感器(4)的下方进行检测,通过该激光测距传感器(4)检测摊平处理后摊平模具(3)内粉体的平整度。

2.按权利要求1所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述摊粉头A(11)为刮板式结构,即该摊粉头A(11)包括摊粉头体(14)及刮板(15),所述摊粉头体(14)与直线模组C(10)相连,在该摊粉头体(14)的下表面安装有刮板(15)。

3.按权利要求2所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述摊粉头体(14)为上下两个直径不等的圆盘状,位于上方的圆盘直径小于位于下方的圆盘直径,所述刮板(15)安装在位于下方圆盘的下表面中间。

4.按权利要求3所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述刮板(15)为“S”型或直板型,“S”型刮板的两端之间的连线等于位于下方圆盘的直径,直板型刮板的长度与位于下方圆盘的直径相等。

5.按权利要求1所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述摊粉头B(12)为圆柱式结构,即该摊粉头B(12)分为上下两个直径不等的圆盘状,位于上方的圆盘直径小于位于下方的圆盘直径。

6.按权利要求1所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述电动转台(13)带动摊平模具(3)匀速旋转,所述激光测距传感器(4)检测得到的是一条等距螺旋线,通过调节所述电动转台(13)的转速和直线模组A(2)的直线运行速度实现摊平模具(3)内粉体任意位置的高度检测。

7.按权利要求1所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述清洁吸嘴(7)在清理摊平模具(3)时将该摊平模具(3)罩住并紧密贴合。

8.按权利要求1所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述直线模组C(10)的上方设有安装在控制机柜(1)上、用于检测设备周边粉尘浓度的粉尘浓度检测仪(5)。

9.按权利要求1所述的粉末自动摊平设备,其特征在于:所述直线模组B(9)的直线运动方向与直线模组C(10)的直线运动方向平行,且垂直于所述直线模组A(2)的直线运动方向。

10.一种权利要求1所述粉末自动摊平设备的使用方法,其特征在于:所述清洁吸嘴(7)的下方为模具清理工位(A)、所述摊粉头A(11)的下方为摊粉头A摊平工位(C),所述摊粉头B(12)的下方为摊粉头B摊平工位(D),所述激光测距传感器(4)的下方为摊粉平整度自检工位(E),所述模具清理工位(A)与摊粉头A摊平工位(C)之间为倒粉工位(B),具体步骤为:

A.将所述摊平模具(3)放到电动转台(13)上,通过所述直线模组A(2)移动至所述模具清理工位(A)处;所述直线模组B(9)带动清洁吸嘴(7)向下运动直至与所述摊平模具(3)紧密贴合,启动所述吸尘装置(8)对摊平模具(3)进行清理;

B.清理后的所述摊平模具(3)在直线模组A(2)的带动下移动至所述倒粉工位(B),将粉末倒入摊平模具(3)内,准备进行摊平处理;

C.所述摊平模具(3)在直线模组A(2)的带动下移动到所述摊粉头A摊平工位(C),同时在所述电动转台(13)的带动下同步进行匀速转动,所述直线模组C(10)带动摊粉头A(11)自下而上对粉末进行摊平处理;

D.所述摊平模具(3)在直线模组A(2)的带动下移动到所述摊粉头B摊平工位(D),同时在所述电动转台(13)的带动下同步进行匀速转动,所述直线模组C(10)带动摊粉头B(12)自下而上对粉末进行摊平处理;

E.所述摊平模具(3)在直线模组A(2)的带动下移动到摊粉平整度自检工位(E),如果所述激光测距传感器(4)检测到摊平处理后摊平模具(3)内粉体的平整度结果显示合格,则摊平模具(3)在直线模组A(2)的带动下移动到所述倒粉工位(B),取下摊平模具(3)并进行后续压制操作;如果所述激光测距传感器(4)检测到摊平处理后摊平模具(3)内粉体的平整度结果显示不合格,则摊平模具(3)在直线模组A(2)的带动下移动到摊粉头A摊平工位(C),重复进行步骤C、步骤D及步骤E,直至所述激光测距传感器(4)检测到摊平处理后摊平模具(3)内粉体的平整度结果合格为止。

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