[发明专利]一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO2含量的方法

权利要求书

1.一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO₂含量的方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一、岩石发射率光谱测量；选用野外采集的若干个岩石样本，对每一个岩石样本均进行热红外辐亮度测量，并进行发射率分离，获得所有岩石样本的发射率曲线；

步骤二、岩石样品SiO₂含量室内定量化学分析；对岩石样本进行SiO₂含量和烧失量百分比分析，用岩石样本SiO₂含量百分比减去烧失量百分比即岩石样本的真实SiO₂含量，剔除SiO₂含量低的岩石样本，剩余岩石样本组成样本集；

步骤三、表征岩石SiO₂含量诊断波长选取和光谱指数构建；在岩石样本集的发射率曲线中，从12.25～13.2μm波长区间内，选取第2个特征发射谷对应的波长λ₁和第一个特征发射峰对应的波长λ₂，获取每一个样品λ₁波段对应的发射率ε_m1和λ₂波段对应的ε_m2，计算每个岩石样本的SiO₂光谱指数X_m；

步骤四、岩石样品SiO₂含量定量反演模型构建；基于二分之一岩石样本集岩石的SiO₂光谱指数X_m，及其岩石样本的真实SiO₂含量，运用统计学原理，构建发射率光谱指数模型即SiO₂含量定量反演模型；

步骤五、岩石样品SiO₂含量定量反演模型精度评价；以剩余二分之一岩石样品集的岩石样本SiO₂光谱指数X_m为变量，代入上述反演模型，得到样品集每一个岩石样本的SiO₂反演含量；通过对每一个样本的SiO₂反演含量与真实含量统计分析得出，发射率光谱指数模型的平均反演精度高于90％，为有效反演模型。

2.根据权利要求1所述的一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述步骤二，剔除SiO₂含量百分比低指百分比小于65％的岩石样本。

3.根据权利要求2所述的一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述的步骤三的特征波段的波长λ₁＝12.6265μm，λ₂＝12.8117μm。

4.根据权利要求3所述的一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述的步骤三SiO₂光谱指数计算公式为X_m＝ε_m1/ε_m2,X_m为编号为m的岩石样本SiO₂光谱指数，ε_m1为编号为m的岩石样本波长为λ₁＝12.6265μm处的发射率值，ε_m2为编号为m的岩石样本波长为λ₂＝12.8117μm处的发射率值。

5.根据权利要求4所述的一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO₂含量的方法，其特征在于：所述步骤四的发射率光谱指数模型为Y_m＝-5475.027+10331.575X_m-4786.819X_m²，Y_m为编号为m的岩石样本反演的SiO₂含量值，X_m为编号为m的岩石样本SiO₂光谱指数。